Список терминов

Атомно-силовая микроскопия (АСМ)

Atomic Force Microscopy

Cканирующий зондовый микроскоп высокого разрешения, основанный на взаимодействии иглы кантилевера (зонда) с поверхностью исследуемого образца. Обычно под взаимодействием понимается притяжение или отталкивание кантилевера от поверхности из-за сил Ван-дер Ваальса. Но при использовании специальных кантилеверов можно изучать электрические и магнитные свойства поверхности.

В отличие от сканирующего туннельного микроскопа (СТМ), может исследовать как проводящие, так и непроводящие поверхности даже через слой жидкости, что позволяет работать с органическими молекулами (ДНК). Пространственное разрешение атомно-силового микроскопа зависит от размера кантилевера и кривизны его острия. Разрешение достигает атомарного по горизонтали и существенно превышает его по вертикали.

Атомно-силовой микроскоп был изобретён в 1986 году Гердом Биннигом и Кристофом Гербером в США. Атомно-силовой микроскоп применяется для снятия профиля поверхности и для изменения её рельефа, а также для манипулирования микроскопическими объектами на поверхности.

Источник:
Википедия. Сканирующий атомно-силовой микроскоп.

Атомно-силовая микроскопия - одна из разновидностей сканирующей зондовой микроскопии, первый атомно-силовой микроскоп (АСМ) сконструирован Г.Биннингом, Х.Гербером и С.Квайтом в 1986 г., метод основан на неразрушающем контакте зонда (атомно-острой иглы) с поверхностью образца в высоком вакууме.

Зонд закрепляют на гибкой балке, называемой кантилевером, регистрация отклонения кантилевера под воздействием поверхности образца регистрируется при использовании емкостных датчиков, интерферометров, систем отклонения светового луча или пьезоэлектрических датчиков. АСМ регистрирует не только топографию поверхности, но и электростатическое или магнитное взаимодействие зонда с образцом, позволяет модифицировать поверхность, проводить наночеканку, выдавливать на поверхности крошечные орнаменты, исследовать биологические объекты.

Источник:
В.Л.Миронов. Основы сканирующей зондовой микроскопии. М., Мир, 2004.