Park XE7. Атомно-силовой микроскоп

Особенности

Экономичный выбор для инновационных исследований

Park XE7 является высокотехнологичным микроскопом, разработан компанией Park Systems. Обладая возможностями более дорогих моделей, ХЕ7 позволяет выполнить исследование своевременно и в рамках бюджета.

Безкомпромиссная производительность

Park XE7 обеспечивает выполнение точных измерений с наноразрешением. Он выдает изображения и отображает мельчайшие характеристики образцов благодаря плоскому, ортогональному и линейному сканирующим измерениям, предусмотренным уникальной АСМ архитектурой: раздельными сканерами XY и Z консольного типа. Более того, уникальный режим True Non-ContactTM обеспечивает Вас самыми четкими изображениями, скан за сканом без снижения разрешения.

Сегодня и завтра

Park XE7 сделает Вашу работу высокопроизводительной сегодня и завтра. Он предоставляет готовый доступ к большому количеству режимов измерений промышленного уровня. Вы можете использовать любой из этих режимов уже сейчас, с заделом на будущее. Кроме того, ХЕ7 располагает наиболее открытой архитектурой среди микроскопов, предлагаемых на рынке, которая позволяет интегрировать и сочетать принадлежности и инструменты при выполнении уникального исследования.

Простота эксплуатации и высокая производительность

Park ХЕ7 с удобным графическим интерфейсом и автоматизированными инструментами позволяет даже новичкам быстро разместить образец и получить требуемый скан. Установка зонда, простота замены образца и наконечника (зонда), удобство настройки лазера, эргономичные органы управления сканированием и обработка в программном приложении – все это позволяет ХЕ7 работать с максимальной продуктивностью.

Экономичный эффект выше затрат

Park ХЕ7 – это не только самый доступный исследовательский инструмент АСМ, но и самый экономичный микроскоп с точки зрения стоимости владения. Режим Park True Non-ContactTM , применяемый в ХЕ7, позволяет оператору экономить деньги на приобретение дорогостоящих зондов. АСМ имеет более длительный срок службы и более высокую обновляемость за счет отличной совместимости с широким набором режимов и опций, предлагаемых в промышленности.

Техническая информация

Точное латеральное сканирование XY в режиме «Crosstalk Elimination» (устранение помех)

Два независимых консольных сканера XY и Z с обратной связью для сканирования поверхности образца с использованием зонда.
• Плоское и ортогональное сканирование XY с малым остаточным искажением.
• Очень высокое разрешение в плоскости с возможностью обнаружения сигнала менее 2нм во всем диапазоне сканирования.
• Точное измерение высоты без необходимости в дополнительной программной обработке.

Длительный срок службы зонда, высочайшее разрешение и отсутствие повреждений на поверхности образца в режиме True Non-ContactTM

• Скорость сервопривода Z оси в 10 раз выше по сравнению с пьезотрубкой другого АСМ.
• Минимальный износ зонда, гарантия получения высококачественного изображения с высоким разрешением в течение длительного периода времени.
• Минимальное нарушение или изменение поверхности образца.
• Независимость от параметров среды в отличие от полуконтактного метода получения изображения.

Режим True Non-ContactTM

• Ниже износ зонда = длительное сканирование высокого разрешения
• Неразрушающий контакт зонд-образец = минимальное нарушение образца
• Невосприимчивость к параметрам измерений (при получении результатов)

Полуконтактное изображение

• Быстрый износ зонда = размытое сканирование низкого качества
• Разрушающее образец взаимодействие зонд-образец = нарушение и изменение поверхности образца
• Высокая зависимость от параметров измерений

Режим True Non-ContactТМ сохраняет четкость показаний зонда

Наконечники (зонды) АСМ настолько хрупкие, что при их контакте с образцом происходит мгновенное снижение разрешения и качества изображения. При работе с мягкими и тонкими образцами зонд может повредить образец, это приведет к неточности измерений высоты профиля, повлечет рост затрат времени и денег. Уникальный режим True Non-ContactТМ АСМ существенно увеличивает разрешение и точность полученных данных при сохранении целостности самого образца.

Основные особенности

• Двумерный консольный сканер с диапазоном сканирования 10 мкм × 10 мкм
• Консольный Z-сканер высокого усилия
• Удобное крепление головки SLD по направляющей
• Удобный держатель образца
• Предметный столик XY с ручным управлением
• Оптическая столик с ручным управлением
• Управление электроникой Park XE с панелью DSP в контроллере

Режимы работы

Поддержка наиболее широкого диапазона режимов SPM и опций в промышленности

Современные исследователи нуждаются в изучении широкого диапазона физических свойств при соблюдении точности условий измерения и окружающей среды. Park Systems поддерживает наиболее широкий диапазон режимов SPM, значительное количество опций АСМ, полную совместимость и обновляемость в индустрии для современного изучения образцов.

Стандартное изображение

• True Non-Contact AFM (реальный бесконтактный режим АСМ)
• Basic Contact AFM (основной контактный режим АСМ)
• Латеральная силовая микроскопия (LFM)
• Фазовое изображение

Химические свойства (Опционально)

• Химическая силовая микроскопия с функциональным зондом
• Электрохимическая микроскопия (EC-STM и EC-AFM)

Температурные свойства (Опционально)

• Сканирующая температурная микроскопия (SThM)

Электрические свойства (Опционально)

• Режим проводимости АСМ
• Спектроскопия I-V
• Сканирующая микроскопия с зондом Кельвина (SKPM/KPM)
• Сканирующая микроскопия (SKPM) высокого напряжения
• Сканирующая емкостная микроскопия (SCM)
• Сканирующая микроскопия сопротивления растекания (SSRM)
• Сканирующая туннельная микроскопия (STM)
• Сканирующая туннельная спектроскопия (STS)
• Картографирование фототоком по времени (Tr-PCM)

Оптические свойства (Опционально)

• Рамановская спектроскопия (TERS)
• Картографирование фототоком по времени (Tr-PCM)

Магнитные свойства (Опционально)

• Магнитная силовая микроскопия (MFM)
• Магнитная силовая микроскопия с регулируемым магнитным полем (TM-MFM)

Диэлектрические/пьезоэлектрические свойства (Опционально)

• Электрическая силовая микроскопия (EFM)
• Пьезоэлектрическая силовая микроскопия (PFM)

Механические свойства (Опционально)

• Силовая модулирующая микроскопия (FMM)
• Наноидентификация
• Нанолитография

Силовое измерение (Опционально)

• Силовая спектроскопия F-D
• Объемное силовое изображение
• Калибровка константы жесткости термическим методом