Инструменты нанотехнологий
ООО «Промэнерголаб» предлагает атомно-силовой микроскоп Park XE7 производства Park Systems (Южная Корея).
Сканер | Латеральный сканер XY | Z сканер |
Консольный одномодульный XY-сканер с замкнутым контуром управления Сканирующий диапазон: 100 мкм x 100 мкм (50 мкм x 50 мкм или 10 мкм x 10 мкм) |
Направляющий силовой Z-сканер Сканирующий диапазон: 12мкм (дополнительно 25 мкм) |
|
Обзор | ||
Прямой осевой обзор поверхности образца и кантилевер В сборе с линзой объектива 10× (линза с 20-кратным увеличением предлагается дополнительно) Область обзора: 480 × 360 мкм ПЗС: 1 Мегапиксель |
||
Программа | XEP | XEI |
Контроль системы и программа получения данных Регулируемые параметры обратной связи в режиме реального времени Управление скриптами с помощью внешних программ (дополнительно) |
Программа для анализа данных АСМ (работает совместно с ОС Windows, Mac OS X, Linux) | |
Электроника | ||
Высокопроизводительный DSP: 600 МГц, 4800 MIPS Не более 16 изображений с данными Максимальный размер данных: 4096×4096 пикселей Входы сигналов: 20 каналов 16-битных ADC на частоте 500 кГц Выходы сигналов: 21 канал 16-битных DAC на частоте 500 кГц Сигнал синхронизации: конец изображения, конец линии, конец пиксельных сигналов TTL Активный Q-контроль (дополнительно) Постоянная калибровка пружины кантилевера (дополнительно) Соответствие СЕ Мощность: 120 Вт Модуль доступа сигнала (дополнительно) |
||
Дополнительные принадлежности | ||
Электрохимический элемент Универсальный жидкостный элемент с температурным управлением Предметные столики с температурным управлением Генератор магнитного поля |
||
Предметный столик | ||
Ход столика XY: 13 мм x 13 мм, моторизированный (200 мм x 200 мм – дополнительно) Ход столика вдоль оси Z: 29,5 мм Диапазон перемещения фокусировки: 70 мм |
||
Крепление образца | ||
Размер образца: до 100 мм Толщина: до 20 мм |