Инструменты нанотехнологий

Park XE-Bio. Атомно-силовой микроскоп

ООО «Промэнерголаб» предлагает атомно-силовой микроскоп Park XE-Bio производства Park Systems (Южная Корея).

Park XE-Bio представляет собой мощный научно-исследовательский инструмент (3 в 1), который содержит ион-проводящий микроскоп, режим АСМ True Non-ContactTM и инвертированный оптический микроскоп на одной платформе.

Модульная конструкция Park XE-Bio позволяет перейти от режима ICM к бесконтактному режиму измерений АСМ.

Созданный для работы с живыми клетками, микроскоп объединяет функции ICM, АСМ и инвертированного оптического микроскопа, поэтому Park XE-Bio является идеальным инструментом для получения сканов биологических образцов, например, живых клеток в динамически меняющихся условиях. Кроме того, ICM можно адаптировать для работы в наноразмерной электрофизиологии.

Особенности

Мощный, комплексный исследовательский инструмент 3 в 1 для работы в нанометрическом диапазоне с модульной платформой
  • Ион-проводящий микроскоп (ICM)
  • Атомно-силовой микроскоп с режимом True Non-ContactTM
  • Инвертированный оптический микроскоп
Неинвазивное изображение в жидких средах с помощью ICM
  • Мониторинг ион-каналов живых клеток
  • Уникальная функциональная способность локальной стимуляции
  • Нанометрическая фиксация локального потенциала для электрофизиологии
  • Камера для контроля температуры, pH, влажности
Максимальное разрешение АСМ в режиме True Non-ContactTM
  • 10-кратное увеличение диапазона частот Z-сканера по сравнению с пьезотрубкой
  • Низкий износ зонда для получения изображения высокого качества и разрешения
  • Минимальное повреждение и изменение образца
  • Отсутствие влияния параметров и условий среды на результаты измерений
  • Единственная молекулярная силовая микроскопия с автоматизированным анализом данных
Полностью встроенный инвертированный оптический микроскоп
  • Совместим с режимом фазового контраста и DIC изображением
  • Совместим с флуоресцентной микроскопией
  • Передовые функции наложения изображения

Характеристики

Совместимость с фазовым контрастом и DIC
XE-Bio способен работать со стандартной конденсорной подсветкой и демонстрирует универсальные возможности для получения оптических изображений с дифференциальным интерференционным контрастом и фазовым контрастом с использованием инвертированного оптического микроскопа. Оптическое изображение позволяет оператору без труда найти интересующую его точку на изображении.
Консольный Z-сканер до 25 мкм высокого усилия
Многоблочный пьезоэлемент высокого усилия применяется в Z-сканере: благодаря своей жесткости он перемещается с более высокой скоростью в вертикальном направлении по сравнению со сканерами стандартных АСМ. Широкий диапазон частот позволяет ICM выдавать изображение в жидких средах высокого разрешения.
Головка со сверхярким диодом для измерений АСМ без интерференции
Низкая когерентность пучка света сверхяркого диода (SLD) позволяет получить точное изображение от отражающих поверхностей и выполнить измерение в пиконьютоновой силовой спектроскопии. Дополнительным преимуществом головки SLD является удобство выполнения экспериментов в видимой части спектра.
Головка ICM
С помощью ионного тока в жидких растворах головка ICM создает высокоточное топографическое изображение мягких материалов в жидких средах, например, живых клеток и мембран.
Замена зонда с фиксатором EZ
Наши кантилеверы можно легко заменить без специальных инструментов. Благодаря предварительным настройкам работу по установке лазера может выполнить даже новичок.
Предметные столики для контроля параметров среды (дополнительное оснащение)
XE-Bio позволяет контролировать параметры среды в образцах. Речь идет о столиках для контроля температуры и жидкостных элементах с жидкостно-газовой перфузией.
Консольный XY-сканер с обратной связью 100 мкм × 100 мкм
Единственный ХY-сканер с параллельной кинематикой обладает низкой инерцией и минимальным биением, это обеспечивает наилучшую ортогональность, высокое быстродействие, независимую осевую характеристику.

Технологии

Сверхсовременное исследование клеток
Новые грани возможного в изображении живых клеток
Биологическая наука, оперирующая нанотехнологиями, призвана решать медицинские задачи высочайшей сложности. За многие годы были разработаны различные технологии, которые позволили развеять мифы в этой области по целому ряду вопросов. Поэтому требуется проведение исследований на живых, одиночных клетках, которые нельзя рассмотреть с помощью обычных микроскопов.
Поверхность клеточных мембран достаточно прозрачная для оптических микроскопов, слишком мягкая для создания контрастного изображения или выполнения зондирования стандартными АСМ. Ученым требуется неинвазивный нанометрический инструмент для локального зондирования живых клеточных мембран. Ион-проводящая микроскопия (ICM) представляет собой неинвазивный метод зондирования в жидких средах, который не оказывает воздействия на поверхность образца. Это позволяет получить отличное нанометрическое изображение мягких клеточных мембран.
Ион-проводящая микроскопия (ICM)
По аналогии со сканирующей туннельной микроскопией в воздухе ICM работает в жидких средах без физического контакта или силового воздействия на поверхность образца. Зонд в форме стеклянной пипетки нано размеров заполнен электролитом, который реагирует на ионный ток, изменяющийся в зависимости от относительного положения образца, помещенного в жидкий буферный раствор. Поскольку дистанция зонд-образец фиксируется с использованием ионного тока вместо физического усилия, действующего на образец, подобное устройство является отличным инструментом для получения четких изображений мягких и липких биологических образцов в жидкостях.
Прорыв в изучении отдельных клеток
Неинвазивный метод сканирования в жидких средах, как например ICM, позволяет получать изображения живых клеточных мембран и помогает исследователям в изучении морфологии и функционального развития поверхности клеток, ранее скрытой под цитоскелетом. Поскольку живые клетки можно зондировать с использованием ICM в течение длительного времени без каких-либо повреждений, то после получения изображения большого размера можно выполнить увеличение и изучить локальные изменения различных зон клеточной поверхности. Это позволяет в ходе исследования отдельной живой клетки найти взаимосвязь между структурным строением и функциями клеток. Это касается также картографирования фрагментов мембран.
Технические характеристики
Сканер
Раздельный XY и Z-сканер
Консольный одномодульный XY-сканер с замкнутым контуром управления
Сканирующий диапазон XY-сканера: 100 мкм × 100 мкм
Рабочая дистанция Z-сканера: 25мкм
Резонансная частота Z-сканера: свыше 4,2кГц
Программа XEP XEI
Контроль системы и программа получения данных
Регулируемые параметры обратной связи в режиме реального времени
Управление скриптами с помощью внешних программ (дополнительно)
Программа для анализа данных АСМ (работает совместно с ОС Windows, Mac OS X, Linux)
Электроника
Высокопроизводительный DSP: 600МГц, 4800 MIPS
Не более 16 изображений с данными
Максимальный размер данных: 4096×4096 пикселей
Входы сигналов: 20 каналов 16-битных ADC на частоте 500 кГц
Выходы сигналов: 21 канал 16-битных DAC на частоте 500 кГц
Сигнал синхронизации: конец изображения, конец линии, конец пиксельных сигналов TTL
Активный Q-контроль (дополнительно)
Постоянная калибровка пружины кантилевера (дополнительно)
Соответствие СЕ
Мощность: 120 Вт
Опции/Режимы Стандартное изображение
True Non-Contact AFM (реальный бесконтактный режим АСМ)
Basic Contact AFM (основной контактный режим АСМ)
Латеральная силовая микроскопия (LFM)
Фазовое изображение
Ион-проводящая микроскопия (ICM)
  Обратная связь DC, AC
Адаптивный режим ARS
Кривая I-d
Оптические свойства
Рамановская спектроскопия (TERS)
Картографирование фототоком по времени (Tr-PCM)
Силовое измерение
Силовая спектроскопия F-D
Объемное силовое изображение
Калибровка константы жесткости термическим методом
Дополнительные принадлежности
Камера для живых клеток
- Контроль параметров среды для поддержания жизнеспособности измеряемых клеток
- Контроль температуры, влажности и pH
Универсальный жидкостный элемент
- Открытый/закрытый элемент для получения изображения в жидких средах
- Температурный контроль
Столики
Рабочий диапазон столика XY:
- 10 мм×10 мм, ручное управление
Рабочий диапазон столика Z:
- 14 мм, моторизированное управление
Размер образца:
- до 50 мм x 50 мм, толщина 20 мм, до 500 г
- чашка Петри (38 мм)
Головка
  Z-сканер высокого усилия с обратной связью
Головка ICM
- Топографическая обратная связь в режимах DC, AC, ARS
- Определение малошумного ионного тока
Головка АСМ
- Определение отклонения кантилевера с малой интерференцией и с использованием сверхяркого диода (830 нм) малой когерентности
Оптика
Прямое, расположенное на оси изображение поверхности образца и кантилевера с помощью IOM
Оптика для получения изображения на виде сверху (дополнительное оснащение)
Фокусировка: 40 мм, ручное управление
Увеличение 300×
Микроскоп
Размеры: 420 мм х 410 мм х 300 мм (Ш x Г х В)
Вес: 17,2 кг

Информация предоставлена Промэнерголаб, ООО

Отправить сообщение представителю компании

2 9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Z А Б В Г Д Е И К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Э ВСЕ