Инструменты нанотехнологий

Olympus MX61. Инспекционный микроскоп

ООО «Группа Ай-Эм-Си» предлагает инспекционные микроскопы MX61L/MX61 от компании Olympus (Япония) для измерений полупроводниковых пластин для электронной промышленности.

Инспекционные микроскопы серии MX61(MX61L) предназначены для оптического контроля поверхности полупроводниковых пластин, фотошаблонов, оптоэлектронных приборов, а также, МЭМС.

Микроскопы Olympus MX61 позволяют исследовать пластины диаметром до 200 мм (300 мм для версии MX61L) и обеспечивают непревзойденное качество изображения поверхности, высочайшую разрешающую способность и четкость картинки в режиме светлого поля, темного поля, дифференциального интерференционного контраста, флюоресценции, а также инфракрасного света.

Информация предоставлена Группа Ай-Эм-Си, ООО

Отправить сообщение представителю компании

2 9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Z А Б В Г Д Е И К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Э ВСЕ