Инструменты нанотехнологий

СОЛВЕР НЕКСТ. Сканирующий зондовый микроскоп платформы СОЛВЕР

Новейшая разработка НТ-МДТ – сканирующий зондовый микроскоп (СЗМ) последнего поколения Солверов. Уникальность этой системы заключается в том, что функциональность и высочайшее качество получаемых изображений сочетается с предельной простотой в использовании, которая достигается за счет полной автоматизации настроек и управления.

СОЛВЕР НЕКСТ – это инновационная и самая свежая разработка НТ-МДТ, открывающая новую линию Сканирующих Зондовых Микроскопов широкого применения. Полная автоматизация настроек и режимов измерений, моторизованное позиционирование образца с привязкой к системе видеонаблюдения, интеллектуальный софт, эргономичный дизайн и доступная цена — все это делает зондовый микроскоп доступным и простым даже для новичка.

Опытного пользователя СОЛВЕР НЕКСТ приятно удивит не только простотой настроек и удобством, но и большим потенциалом возможностей и качеством изображений. Встроенные датчики обратной связи обеспечивают высокую точность позиционирования зонда и исключают возможные искажения изображения. Таким образом, технология использования встроенных датчиков компенсирует неизбежное несовершенство пьезокерамики — нелинейность, крип и гистерезис.

Две стационарные, автоматически устанавливаемые АСМ и СТМ головки, а также две дополнительные — для работы в жидкости и наносклерометрии, обеспечивают большую свободу в выборе методик и условий измерений. Уникальная конструкция прибора позволяет при смене измерительных головок попадать в ту же область поверхности образца. Новый мощный контроллер, библиотека скриптов, совместимость с MAC OS делают систему гибкой для настройки именно под вашу задачу.

Особенности

HeadHiPEX™ (Head High Precision ExChange System) система предназначена для управления измерительными головками. HeadHiPEX™ осуществляет автоматическую смену встроенных (АСМ, СТМ) и дополнительных внешних головок, осуществляя их прецизионное позиционирование над образцом.

Многофункциональная система создания однородной среды вокруг образца IsoShield™. Система поддерживает вокруг образца однородную среду (постоянную температуру, контролируемый уровень влажности, пренебрежимо малый уровень паразитного электромагнитного поля; обеспечивает электростатическую изоляцию). Система также осуществляет защиту оператора от лазерных лучей при открытой измерительной ячейке.

Легкая в управлении автоматическая прецизионная система навигации образца PINpoint™ (Precision Instrument Navigation System) обеспечивает точное расположение образца и прицельное позиционирование системы видеонаблюдения.

ExpertFBA™ (Expert Fine beam Alignment System) обеспечивает автоматическую юстировку оптической системы (кантилевер — лазер — фотодиод).

Электронная система переключения размера области сканирования ScanScaler™ обеспечивает легкое автоматизированное переключение режима сканера между большими (до 100 мкм) и малоразмерными (атомарного разрешения) образцами.

Моторизованная фокусировка и увеличение (zoom) изображения.

Автоматическая настройка режимов измерений в программном обеспечении.

Все основные методики атомно-силовой микроскопии. Топография, отображение фазы, измерение электрических характеристик, возможность нанолитографии и многое другое.

Сканирующая туннельная микроскопия.

Широкий диапазон контролируемых условий для проведения эксперимента — на воздухе, в жидкости, с нагревом образца.

Емкостные низкошумящие датчики по трем координатам обеспечивают возможность метрологических измерений с атомарным разрешением.

Спецификация
Характеристика Значение
Измерительная система
Измерительные головки АСМ и СТМ (стационарные, с автоматической установкой); жидкостная и наносклерометрическая (сменные, с ручной установкой)
Доступные СЗМ методы АСМ, СТМ, наносклерометрия на воздухе АСМ, в жидкости
Система регистрации отклонений кантилевера автоматизированная юстировка
Образец
Размер до 20 мм в диаметре, до 10 мм в высоту
Вес образца до 100 г
Система сканирования
Тип сканирования образцом
Область сканирования 100x100x10 мкм (с датчиками обратной связи)
3x3x2 мкм в режиме высокого разрешения
Нелинейность, XY 0.1 % (с датчиками обратной связи)
Разрешение
Шум XY не более 0.3 нм (с датчиками обратной связи)
Уровень шума Z (RMS в полосе 10 — 1000 Гц) 0.03 нм (типично) с датчиками обратной связи
0.02 нм в режиме высокого разрешения
Система позиционирования образца
Способ позиционирования автоматизированный, привязанный к системе видеонаблюдения
Диапазон, XY 5x5 мм
Минимальный шаг 0.15 мкм
Система видеонаблюдения
разрешение 3 мкм
фокусировка моторизованная
zoom непрерывное увеличение рабочей области моторизованная
Размеры 470x210x260
Температурный контроль образца от комнатной температуры до 150° С
Платформа СОЛВЕР: СОЛВЕР Некст

Платформа СОЛВЕР: СОЛВЕР Некст

Информация предоставлена ЗАО «НТ-МДТ»

Отправить сообщение представителю компании

2 9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Z А Б В Г Д Е И К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Э ВСЕ