Инструменты нанотехнологий

НАНОЭДЮКАТОР. Учебный микроскоп для проектной и исследовательской деятельности учащихся.

НАНОЭДЮКАТОР (Nanoeducator) — это учебный микроскоп для проектной и исследовательской деятельности школьников старших классов, кадетов и учебной деятельности студентов и курсантов в Высших учебных заведениях по дисциплинам естественно-научного блока знаний.

Специальное оборудование для преподавания основ нанотехнологий. Комплексный подход к процессу обучения обеспечивается наличием следующих составляющих:

  • Базовый сканирующий зондовый микроскоп НАНОЭДЬЮКАТОР
  • Учебное пособие по основам СЗМ спектроскопии и нанолитографии
  • Подробное руководство пользователя
  • Наличие виртуальной Demo-версии программы, проводящей пользователя последовательно через все этапы получения качественного СЗМ изображения
  • Развитый контекстный Help
  • Сборник ЧАВО (ЧАсто задаваемые ВОпросы)
  • Апробированный лабораторный практикум с набором учебных образцов для исследований.

Образовательный процесс с использованием НАНОЭДЬЮКАТОРа направлен на освоение основ работы в режимах Сканирующей Зондовой Микроскопии, приобретение навыков исследования нанообъектов и наноструктур, проведение зондовой нанолитографии и наноманипуляций. Измерительная система имеет специальную конструкцию, в которой учтена необходимость защиты от случайных поломок, встроенная цифровая видеокамера позволяет выбрать интересный участок на поверхности образца и контролировать состояние зонда и процесс его подвода к поверхности. Специальный зондовый датчик может быть восстановлен путем травления, что уменьшает эксплуатационные расходы и позволяет приобретать дополнительные практические навыки пользователю системы.

Новое дружественное программное обеспечение учебно-научного комплекса совместимо с операционными системами MAC и Windows XP.

Таким образом, установка учебно-научного комплекса NANOEDUCATOR фактически означает получение «под ключ» учебного класса по нанотехнологиям, в котором можно сразу же приступать к процессу обучения.

Особенности

  • Дружественный интерфейс
  • Пошаговая настройка СЗМ методик
  • Наглядность, анимационное обучение
  • Отсутствие сложных настроек
  • Простая смена образца
  • Возможность восстановления зонда и недорогие расходные материалы
Спецификация
Технические характеристики
Система сканирования
Сканирование образцом
Диапазон измерений линейных размеров в плоскости XY,мкм не менее 100
Диапазон измерений линейных размеров по оси Z, мкм не менее 10
Пошаговое сканирование (Мин. шаг) 2 Å
Среднеквадратичное отклонение (СКО) результатов измерений линейных размеров в плоскости XY не более 5%
Среднеквадратичное отклонение (СКО) результатов измерений линейных размеров по оси Z не более 5%
Разрешение
Разрешение в плоскости XY не более 50 нм
Разрешение по оси Z не более 2 нм
Максимальное число точек сканирования по X и Y 1024х1024
Нелинейность сканирования в плоскости XY не более 30 нм
Неортогональнасть сканера в плоскости XY не более 5°
Неплоскостность сканирования в плоскости XY не более 500 нм
Дрейф в плоскости XY не более 5 А/c
Дрейф по оси Z не более 5 А/c
АСМ режим X_Y – 50 нм, вплоть до 10 нм
с использованием острой иглы
и виброизоляции Z – 3 нм
СТМ режим X_Y – 10 нм, Z – 3 нм
Операционные системы Mac OS и Windows XP
Образец
Размер образца диаметр вплоть до 12 мм
Толщина образца вплоть до 5 мм
Возможность подавать напряжение на образец есть
Массо-габаритные характеристики
Габаритные размеры контроллера (длина x глубина x высота) 260х160х360 мм
Габаритные размеры измерительной головки (длина x глубина x высота) 160х160х130 мм
Масса (в комплекте) не более 8 кг
Условия эксплуатации
Напряжение питания переменного тока 220(+10/-15%) В
Потребляемая мощность не более 60 Вт
Темепература окружающего воздуха 20±5 °С
Относительная влажность воздуха не более 65±15%
Атмосферное давление 760±30 мм рт.ст
Дрейф температуры не более 1°С в час
Амплитуда вибраций в полосе частот 1 — 1000 Гц не более 0,5 мкм

Применение

Основные СЗМ методики

АСМ, «Полуконтактный» метод

  • Отображение рельефа
  • Отображение дифференциального контраста
  • Отображение фазового контраста
  • Силовая спектроскопия
  • Динамическая силовая литография

СТМ

  • Отображение рельефа
  • Отображение тока (метод постоянной высоты)
  • V(Z) спектроскопия
  • I(V) спектроскопия

Наличие АСМ и СТМ методик позволяет проводить исследования как проводящих, так и диэлектрических образцов. В качестве примеров можно привести:

  • Биологические объекты, вплоть до ДНК
  • Накопители информации (CD, DVD и матрицы для их изготовления)
  • Микро и наноструктуры
  • Оптоэлектронные элементы и т.д.

Конфигурации

НАНОЭДЬЮКАТОР является полноценным СЗМ, специально разработанным для обучения основным методикам СЗМ. Прибор позволяет проводить АСМ и СТМ измерения без замены зонда. Измерительная головка включает сканер с предметным столиком, на который устанавливается образец, и зондовый датчик. Конструкция измерительной головки разработана таким образом, чтобы исключить случайное повреждение сканера при поперечном смещении.

Легко устанавливаемая на измерительную головку цифровая видеокамера оснащена автономным источником освещения. Возможность перемещения видеокамеры позволяет выбрать интересующий участок на поверхности образца. Положение источника света также можно менять, что позволяет подчеркивать особенности рельефа поверхности образца за счет изменения угла подсветки.

Зондовый датчик

Универсальный зондовый датчик выполнен восстанавливаемым – при износе или повреждении кончика зонда, изготавливаемого из вольфрамовой проволоки, он может быть снова заострен путем травления.

Устройство травления

Для восстановления зондов имеется специальное устройство травления (УТИ), позволяющее методом электрохимического травления получать зонды с радиусом закругления острия на уровне 0.2 мкм.

В настоящее время компания НТ-МДТ разаботала и поставляет новую версию — НАНОЭДЮКАТОР II.

Дополнительные материалы:

Информация предоставлена ЗАО «НТ-МДТ»

Отправить сообщение представителю компании

2 9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Z А Б В Г Д Е И К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Э ВСЕ