Инструменты нанотехнологий

ИНТЕГРА Спектра II. Интеграция СЗМ с конфокальной микроскопией

Интеграция СЗМ с конфокальной микроскопией/спектроскопией комбинационного рассеяния (КР). Благодаря эффекту гигантского усиления КР позволяет проводить КР спектроскопию и получать изображения с разрешением в плоскости до 50 нм.

СЗМ комплекс Рамановской спектроскопии NTEGRA Spectra II

NTEGRA Spectra II  — это уникальная интеграция Сканирующего Зондового Микроскопа с конфокальной микроскопией/спектроскопией люминесценции и комбинационного рассеяния (КР). Уникальное совмещение оптических и зондовых методов в одном приборе позволяет ставить комплексные эксперименты, в которых информация о распределении оптических свойств образца и его химического состава может быть наложена на распределение его механических, электрических, магнитных и других свойств.

Самый широкий набор методик АСМ

Поддерживаются более 60 базовых и продвинутых АСМ методик, включая HybriD ModeTM, предоставляя обширную информацию о физических свойствах образца. Интеграция АСМ с конфокальной рамановской/флуоресцентной микроскопией обеспечивает широчайший набор дополнительной информации об образце.

Система для конфокальной оптической микроскопии

Нанолаборатория NTEGRA Spectra II представляет собой комбинированную систему, включающую конфокальный сканирующий лазерный спектрометр высокого пространственного разрешения, оптический микроскоп и универсальный сканирующий зондовый микроскоп. Система способна работать в режиме регистрации пространственного, трехмерного распределения спектров люминесценции и комбинационного рассеяния света, а также в различных режимах сканирующей зондовой микроскопии, включая наноиндентацию, наноманипуляцию и нанолитографию.

TERS. Усиленное рамановское рассеяние.

Благодаря зондово усиленному рамановскому рассеянию TERS (Tip Enhanced Raman Scattering) NTEGRA Spectra II позволяет проводить спектроскопию/микроскопию с нанометровым пространственным разрешением. Специально изготовленные АСМ зонды (наноантенны) могут быть использованы в TERS для локализации и усиления излучения в нанометровой области около острия зонда. Такие наноантенны действуют как «наноисточники» излучения, давая возможность получения оптического изображения с разрешением на порядки лучше дифракционного предела (до ~ 10 нм), что даёт возможность картировать распределение оптических свойств

SNOM. Сканирующая ближнепольная микроскопия.

Сканирующая ближнепольная оптическая микроскопия (СБОМ) — это возможность изучать оптические свойства образца с пространственным разрешением до 50нм. В отличие от обычного оптического микроскопа, разрешение которого ограничено пределом дифракции (около 170 нм для синего света при соблюдении условия конфокальности), разрешение СБОМ определяется лишь размером апертуры оптического зонда — отверстия в металлическом покрытии на острие оптоволокна, по которому свет от лазера поступает к образцу.

Особенности

  • Острие АСМ зонда и фокус лазерного пучка могут быть спозиционированы друг относительно друга с высокой точностью (необходимо для получения максимального эффекта KP-TERS)
  • При использовании оптической схемы «на просвет» высокотемпературный объектив жестко встроен в основание АСМ. Это обеспечивает долговременную стабильность системы, необходимую для работы со слабыми сигналами
  • Часть отраженного излучения используется для построения конфокального лазерного отражения
  • Низкошумящая CCD камера с охлаждением до -70°C (квантовая эффективность до 90%) служит высокочувствительным детектором
  • В качестве альтернативного детектора можно использовать лавинный фотодиод
  • Гибкий выбор поляризационных устройств
  • Все компоненты системы (АСМ, оптические и механические устройства) интегрированы с помощью единого программного обеспечения. большинство ключевых узлов и устройств системы (лазеры, решетки, диафрагмы, поляризаторы и т.д.) можно выбирать и/или настраивать прямо из программы
  • Три разных схемы для работы с TERS

Применение

ИНТЕГРА Спектра применяется для исследования биологических объектов, контроля качества поверхностей оптических деталей, излучающих полупроводниковых структур, характеристик нанооптических и интегрально-оптических элементов, исследования характеристик наноэлектронных элементов, в частности, спектров квантовых точек.

  • Исследование соединительной ткани, ДНК, вирусов
  • Определение характеристик оконечных оптических устройств
  • Спектроскопические измерения
  • Контроль химических реакций
Конфигурации

Конфигурация с спектрометром Renishaw

Конфигурация с спектрометром Solar TII

Конфигурация для оптических измерений

Конфигурация позволяет проводить исследования биологических объектов, контроль качества поверхностей оптических деталей, излучающих полупроводниковых структур, характеристик нанооптических и интегрально-оптических элементов, исследование характеристик наноэлектронных элементов, в частности, спектров квантовых точек.

Конфигурация с Оптикой Высокого Разрешения

Уникальная конфигурация, позволяющая в процессе сканирования проводить наблюдение участка образца непосредственно под зондом с разрешением 0.4 мкм.

Конфигурация для АСМ измерений с высоким разрешением

Данная конфигурация за счет использования сканирования образцом позволяет АСМ реализовать измерения с максимальным разрешением при минимальных искажениях.

АСМ конфигурация

Конфигурация с АСМ измерительной головкой наряду с обычным комплексом методик силовых измерений позволяет реализовать оптические методики измерений с разрешением выше дифрационного предела, в т.ч. спектральные, связанных с гигантскими нелинейными эффектами.

Дополнительные материалы:

Базовое оборудование:

Информация предоставлена НТ-МДТ, ООО

Отправить сообщение представителю компании

2 9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Z А Б В Г Д Е И К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Э ВСЕ