Инструменты нанотехнологий

ИНТЕГРА Соларис. Сканирующий ближнепольный оптический микроскоп

Сканирующий ближнепольный оптический микроскоп (СБОМ). Специализация – исследование оптических свойств за пределом дифракции видимого света (разрешение до 30 нм).

Сканирующая ближнепольная оптическая микроскопия (СБОМ) — это возможность изучать оптические свойства образца (его способность отражать, пропускать, рассеивать свет) с пространственным разрешением в несколько десятков нанометров. В отличие от обычного оптического микроскопа, разрешение которого ограничено пределом дифракции (около 170 нм для синего света при соблюдении условия конфокальности), разрешение СБОМ определяется лишь размером апертуры оптического зонда — отверстия в металлическом покрытии на острие оптоволокна, по которому свет от лазера поступает к образцу. В сменное основание системы встроен держатель объектива с 100 мкм Z-сканером, большая механическая жесткость конструкции позволяет использовать иммерсионные высокоапертурные объективы.

Особенности

  • Изучение оптических свойств с разрешением до 30 нм
  • Возможность собирать одновременно отраженные и проходящие фотоны
  • Беспрецедентно высокое разрешение при работе с флуоресцентно-окрашенными объектами
  • Открытый дизайн системы
  • Возможность использовать измерительную головку в режиме Stand Alone

Применение

  • Исследования биологических объектов
  • Контроль качества поверхностей оптических деталей
  • Излучающих полупроводниковых структур
  • Исследование характеристик нанооптических и интегрально-оптических элементов
  • Исследование характеристик наноэлектронных элементов, в частности, спектров квантовых точек

Дополнительные возможности

  • Возможность проводить измерения в жидкости
  • Лазерный конфокальный сканирующий микроскоп/спектроскоп
Конфигурации

Конфигурация для оптических измерений

Конфигурация предназначена для измерения рельефа поверхности образца и его приповерхностных оптических характеристик.

АСМ конфигурация

Конфигурация с АСМ измерительной головкой наряду с обычным комплексом методик силовых измерений позволяет реализовать оптические методики измерений с разрешением выше дифрационного предела, в т.ч. спектральные, связанных с гигантскими нелинейными эффектами.

Дополнительные материалы:

Базовое оборудование:

Информация предоставлена НТ-МДТ, ООО

Отправить сообщение представителю компании

2 9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Z А Б В Г Д Е И К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Э ВСЕ