Инструменты нанотехнологий

SiPHER. Обнаружение электрически активных дефектов в кремнии

Система SiPHER обнаруживает наличие дефектов, которые приводят к сокращению времени жизни носителей.

Это относится ко всем обычным металлическим загрязнениям, а также к протяженным структурным дефектам: дефектам кристаллической структуры, дислокациям несоответствия и винтовым дислокациям. Подобные дефекты приводят к отбраковке готовых изделий.

Соединяющий в себе достоинства высокой чувствительности и большого пространственного разрешения SiPHER является одним из наиболее мощных и универсальных инструментов для оптимизации производства и выявления брака.

Информация предоставлена ООО «Сигм плюс»

Отправить сообщение представителю компании

2 9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Z А Б В Г Д Е И К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Э ВСЕ