Инструменты нанотехнологий

LVEM5. Низковольтный настольный просвечивающий микроскоп

Настольный просвечивающий микроскоп LVEM5 с разгонным напряжением 5 кв был создан для получения высококонтрастных изображений тонких биологических структур без применения красящих контрастных растворов и без разрушения объектов наблюдения. Со временем выяснилось, что аналогичный подход может успешно применяться и для исследований свойств и состава сложных органических соединений и полимеров. LVEM5 также успешно применяется в решении ряда материаловедческих задач, включая 3-х мерный анализ качества сборки различных наноструктур.

Просвечивающий низковольтный электронный микроскоп LVEM5 производства компании Delong с разгонным напряжением в 5 kV существенно отличается от традиционных электронных микроскопов как по архитектуре\дизайну так и по функциональности и практичности.

1) Упрощённый, многорежимный просмотр образцов.
Только LVEM5 может переключаться посредством програмного обеспечения между TEM, SEM, STEM и ED режимами. Последнее позволяет исследовать сверх тонкие 3-х мерные структуры одновременно с изучением деталей поверхности и дифракционной картины в заданной точке образца.
2) Настольный просвечивающий электронный микроскоп.
На сегодняшний день LVEM5 является единственным просвечивающим настольным электронным микроскопом. Остальные настольные микроскопы способны работать только в одном сканирующем режиме.
Размеры LVEM5 составляют около 29х45х45 см. Все другие просвечивающие электронные микроскопы по крайней мере в 6–7 раз больше и требуют дополнительных устройств и вложений в инфраструктуру.
LVEM5 не использует водяного охлаждения и питается от обычного источника напряжения в 220 в.
3) Разрешение.
LVEM5 является единственным настольным электронным микроскопом с разрешением в 2.5 нм в TEM и 3 нм в SEM режиме.
4) Сверх высокий контраст в TEM режиме.
LVEM5 обладает уникальной контрастностью изображения в TEM режиме. Поскольку LVEM5 работает при гораздо более низком, чем у остальных TEM микроскопов разгонном напряжении (5 кV) это обеспечивает повышенное взаимодействие пучка излучения и образца приводящее к увеличению рассеяния электронов.
Последнее приводит к повышению контраста который может превосходить обычные трансмиссионные микроскопы работающие при 100 kV напряжении в 10 раз (результат получен при исследовании стандартного образца углеродной плёнки толщиной 20 нм).
Данная особенность LVEM5 позволяет наблюдать структуру биологических и полимерных материалов без подкраски образца.

Широкий выбор рабочих режимов

Несмотря на то, что LVEM 5 — самый маленький коммерчески доступный просвечивающий электронный микроскоп, он позволяет работать во всех стандартных режимах, присущих большим микроскопам. Настольный электронный микроскоп может работать как в просвечивающем режиме (TEM — Transmission Electron Microscope), так и в режиме дифракции (SAED — Selected Area Electron Diffraction), а также в сканирующих режимах: STEM — Scanning Transmission Electron Microscope, SEM — Scanning Electron Microscope с детектором обратно рассеяных электронов (BSE). При этом пространственное разрешение достигает нескольких нанометров.

Возможны следующие комплектации микроскопа:

  • TEM (совмещен с SAED)
  • TEM (совмещен с SAED) + STEM
  • TEM (совмещен с SAED) + SEM
  • TEM (совмещен с SAED) + STEM + SEM
Спецификации
Ускоряющее напряжение 5 кВ
Образец стандартный диаметр 3.05 мм
Время замены образца около 3 минут
Электронная оптика
Конденсаторная линза Постоянный магнит
Фокусное расстояние (в расчете на 5 кВ) 4.30 мм
Минимальная зона облучения 100 нм
Апертура диаметр 50 и 30 микрон
Линза объектива Постоянный магнит
Фокусное расстояние (в расчете на 5 кВ) 1.26 мм
Cs (сферическая абберация) 0.64 мм
Cc (хроматическая абберация) 0.89 мм
δteor (теоретическое разрешение) 1.1 нм
αteor (теоретическая апертура) 1*10-2 рад
Апертура объектива диаметр 50 и 30 микрон
Проецирующий объектив электростатический
Увеличение на экране АИГ 36–470
Электронная пушка Катод Шотки ZrO/W [1 0 0]
Плотность тока 0.2 мА*стерадиан-1
Срок эксплуатации более 2000 часов
Световая оптика
Объектив Olympus M 40x NA 0.90
Объектив Olympus M 4x NA 0.13
Бинокуляр М 10х Olympus U-TR30-2 широкопольный тринокуляр
Регистрация в режиме TEM
Камера Retiga 4000R CCD
Матрица 2048 х 2048 пикселей
АЦП 12 бит
Размер пикселя 7.4 х 7.4 микрон
Охлаждение элемент Пельтье по запросу
Регистрация в режиме SCAN
Монитор 512 х 512 пикселей
Разрешение файла до 2048 х 2048 пикселей
АЦП 8 бит
Режимы съемки
TEM
Разрешение 2.5 нм
Увеличение (в зависимости от разрешения матрицы) 1500–150000
ED (электронная дифракция)
Минимальный размер образца 100 нм
Дифракционная линза увеличение 3.5
STEM
Разрешение 2.0 нм
Минимальное увеличение (25 х 25 микрон) 6000
SEM (детектор BSE)
Разрешение 4 нм
Минимальное увеличение (200 х 200 микрон) 800
Вакуум
Система смены образца (Airlock)
Диафрагменный и турбомолекулярный насосы 1*10-5 атм
Пространство образца
Геттеро-ионный насос (10 л/сек) 1*10-8 атм
Электронная пушка
Геттеро-ионный насос (7 л/сек) 1*10-9 атм
Вес и размеры
Электронная и световая оптические системы
Вес 25 кг
Размеры (ШхВхГ) без камеры 290х450х430/480 мм
Вакуумная система блока смены образца (Pfeiffer TSH)
Вес 15 кг
Размеры (ШхВхГ) 300х300х340 мм
Управляющая электроника
Вес 19 кг
Размеры (ШхВхГ) 470х270х290 мм
Питание
Управляющая электроника в режиме ожидания (только ионные насосы) 20 ВА
Управляющая электроника 160 ВА
Насос камеры смены образца 300 ВА
Камера 24 ВА
Водяное охлаждение не требуется

Примеры использования рабочих режимов

Информация предоставлена

Отправить сообщение представителю компании

2 9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Z А Б В Г Д Е И К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Э ВСЕ