Сортировать: по рейтингу | по названию | по дате поступления | по популярности

Оборудование

Приборы

NanoView. 3D оптический профилометр

Производитель: Nanosystem (Южная Корея)

Поставщик: Интеллект, ООО

Рубрикатор: Анализ топографии, Приборы для микроанализа поверхности, Анализ рельефа поверхности

Ключевые слова: оптический профилометр

ООО «Интеллект» представляет точный бесконтактный оптический 3D-профилометр NanoView от компании Nanosystem (Южная Корея).

MicroXAM. Оптические профилометры (интерферометры)

Производитель: KLA-Tencor (США)

Поставщик: Группа Ай-Эм-Си, ООО

Рубрикатор: Анализ топографии, Анализ рельефа поверхности, Фазовый анализ поверхности

Ключевые слова: инспекция поверхности, полупроводниковые материалы, контроль технологического процесса, контроль обработки пластин

ООО «Группа Ай-Эм-Си» предлагает Оптические профилометры (интерферометры) MicroXAM от компании KLA-Tencor  (США).

5

Triboindenter TI 950. Сканирующий наноиндентор

Производитель: Hysitron Inc (США)

Поставщик: Группа Ай-Эм-Си, ООО

Рубрикатор: Сканирующие зондовые микроскопы, Анализ топографии, Нанотвердомеры, Анализ рельефа поверхности

Ключевые слова: исследование свойств материалов наноиндентирование скретч-тест твердомер

ООО «Промышленный мониторинг и контроль» предлагает Triboindenter TI 950 — самый продвинутый сканирующий наноиндентор на рынке.

5

Lyncee Tec DHM T1000. Голографический микроскоп

Производитель: Lyncee Tec SA (Швейцария)

Поставщик: Группа Ай-Эм-Си, ООО

Рубрикатор: Инвертированные микроскопы, Анализ проводимости поверхности, Анализ топографии, Анализ рельефа поверхности

Ключевые слова: микроскопия, профилометрия, исследование клеток, бионанотехнология

ООО «Промышленный мониторинг и контроль» предлагает голографический микроскоп Lyncee Tec DHM серии T1000 для инспекции поверхности в проходящем свете.

Elli-Ret. Система измерения фазы

Производитель: Ellipso Technology (Корея)

Поставщик: Промэнерголаб, ООО

Рубрикатор: Анализ рельефа поверхности

Ключевые слова: микроэлектроника, полупроводники, аналитическое оборудование, спектрометры, эллипсометры, метрология тонких пленок

ООО «Промэнерголаб» предлагает систему измерения фазы Elli-Ret для анализа сильных, слабых и нулевых фазовых пленок производства Ellipso Technology (Корея).

Elli-RP. Спектроскопический рефлектометр

Производитель: Ellipso Technology (Корея)

Поставщик: Промэнерголаб, ООО

Рубрикатор: Анализ рельефа поверхности

Ключевые слова: микроэлектроника, полупроводники, аналитическое оборудование, спектрометры, эллипсометры, метрология тонких пленок

ООО «Промэнерголаб» предлагает спектроскопический рефлектометр Elli-RP для надежного, быстрого и точного измерения толщин пленок в различных технологических процессах производства Ellipso Technology (Корея).

Elli-RI. Спектроскопический рефлектометр

Производитель: Ellipso Technology (Корея)

Поставщик: Промэнерголаб, ООО

Рубрикатор: Анализ рельефа поверхности

Ключевые слова: микроэлектроника, полупроводники, аналитическое оборудование, спектрометры, метрология тонких пленок

ООО «Промэнерголаб» предлагает систему измерения пленок солнечных элементов Elli-RI производства Ellipso Technology (Корея).

Elli-RSc. Спектроскопический рефлектометр

Производитель: Ellipso Technology (Корея)

Поставщик: Промэнерголаб, ООО

Рубрикатор: Анализ рельефа поверхности

Ключевые слова: микроэлектроника, полупроводники, аналитическое оборудование, спектрометры, метрология тонких пленок

ООО «Промэнерголаб» предлагает спектроскопический рефлектометр Elli-RSc с малым размером пучка рассеяния и большим предметным столиком производства Ellipso Technology (Корея).

2 9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Z А Б В Г Д Е И К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Э ВСЕ