Инструменты нанотехнологий

Сортировать: по рейтингу | по названию | по дате поступления | по популярности

Поиск по производителю

Производитель: Nanometrics

Nanometrics является мировым лидером в разработке, производстве и продаже специализированного контрольно-измерительного оборудования, используемого крупнейшими производителями полупроводниковых приборов.

Nanometrics выпускает системы, позволяющие измерять различные свойства тонких пленок, критические размеры, ошибки совмещения слоев (overlay) на всех этапах производства полупроводниковых приборов и интегральных микросхем. Оборудование Nanometrics повышает производительность и снижает стоимость производства.

Всё оборудование

15

Accucolor™. Программное обеспечение

Производитель: Nanometrics (США)

Поставщик: ООО «Сигм плюс»

Рубрикатор: Приборы для микроанализа поверхности, Программное обеспечение

Ключевые слова: светодиодные гетероструктуры, Accucolor, светодиоды

Accucolor является специализированным программным обеспечением, разработанным для работы со светодиодными гетероструктурами видимого диапазона, которое может интегрироваться в современные системы измерений фотолюминесценции и спектров отражения в белом свете RPMSigma и RPM2000.

2

RPM 2000. Фотолюминесцентное измерение поверхности

Производитель: Nanometrics (США)

Поставщик: ООО «Сигм плюс»

Рубрикатор: Приборы для микроанализа поверхности, Люминесцентная спектроскопия

Ключевые слова: микроанализ, фотолюминесцентные измерения

RPM 2000 — настольная система измерения распределения фотолюминесцентного сигнала по площади исследуемого образца.

1

Caliper elan - эффективное решение для измерений ошибок совмещения слоев (overlay-контроль) на пластинах диаметром 300 мм

Производитель: Nanometrics (США)

Поставщик: ООО «Сигм плюс»

Рубрикатор: Приборы для микроанализа поверхности

Ключевые слова: микроанализ, overlay-контроль

Caliper élan – последняя и наиболее совершенная полупроводниковая overlay-система производства фирмы Nanometrics. Elan основан на оригинальной overlay-системе Caliper и представляет собой наиболее эффективное и экономичное решение для используемого в настоящее время технологического процесса 90 нм, а в дальнейшем для технологии 65 нм и менее.

ECVPro. Электрохимический CV-профилометр

Производитель: Nanometrics (США)

Поставщик: ООО «Сигм плюс»

Рубрикатор: Приборы для микроанализа поверхности

Ключевые слова: микроанализ, профилометр

Запатентованный, принципиально новый CV-профилометр, в корне меняющий представление о возможностях электрохимического профилирования.

HL5500PC. Система измерения эффекта Холла

Производитель: Nanometrics (США)

Поставщик: ООО «Сигм плюс»

Рубрикатор: Приборы для микроанализа поверхности

Ключевые слова: полупроводники, эффект Холла

HL5500PC представляет собой высокоэффективную систему, предназначенную для проведения измерений эффекта Холла и позволяющую определять сопротивление, концентрацию и подвижность носителей в полупроводниках.

iKhan. Универсальная система обнаружения дефектов

Производитель: Nanometrics (США)

Поставщик: ООО «Сигм плюс»

Рубрикатор: Приборы для микроанализа поверхности

Ключевые слова: микроанализ

iKhan представляет собой универсальную систему обнаружения дефектов на пластинах диаметром 300 мм, обладающую уникальной системой перемещения пластин с помощью захвата краев, которая позволяет исследовать обе стороны пластины без контакта с поверхностью.

IVS 185. Система для оверлей-измерений

Производитель: Nanometrics (США)

Поставщик: ООО «Сигм плюс»

Рубрикатор: Приборы для микроанализа поверхности

Ключевые слова: микроанализ, оверлей-измерения

IVS 185 - система для измерения ошибок совмещения и определения критического размера для полупроводникового производства и MEMS. Диаметр пластин от 75 до 200 мм.

Q240 AT. Overlay-система для пластин 200 мм

Производитель: Nanometrics (США)

Поставщик: ООО «Сигм плюс»

Рубрикатор: Приборы для микроанализа поверхности

Ключевые слова: микроанализ, оверлей-контроль

Наиболее эффективное решение для измерений ошибок совмещения на 200 миллиметровых пластинах.

QS1200. Настольный ИК-Фурье спектрометр

Производитель: Nanometrics (США)

Поставщик: ООО «Сигм плюс»

Рубрикатор: Приборы для микроанализа поверхности, ИК-Фурье спектроскопия

Ключевые слова: микроанализ, спектрометр

QS-1200 — ИК-Фурье спектрометр для исследования пластин с размерами от 100 до 300 мм. Представляет собой настольную систему для измерения уровней легирования, толщин эпитаксиальных слоев и т.д.

QS2200. ИК Фурье спектрометр

Производитель: Nanometrics (США)

Поставщик: ООО «Сигм плюс»

Рубрикатор: Приборы для микроанализа поверхности

Ключевые слова: микроанализ, спектрометр

QS2200 – ИК Фурье спектрометр, специально разработанный для неразрушающего контроля пластин. Прибор используется как для определения характеристик полупроводниковых материалов, так и при производстве устройств.

2 9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Z А Б В Г Д Е И К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Э ВСЕ