Инструменты нанотехнологий
Сортировать: по рейтингу | по названию | по дате поступления | по популярности
Поиск по производителю
Производитель: Jordan Valley Semiconductors Ltd.
Компания Jordan Valley Semiconductors Ltd. является ведущим производителем аналитического оборудования для исследования тонких пленок и их контроля в производственных циклах. Семьдесят пять процентов ведущих мировых производителей полупроводниковой продукции используют системы Jordan Valley. Выдающаяся точность и гибкость приборов, высокий уровень автоматизации и лидирующее в индустрии программное обеспечение делают рентгеновские системы JV востребованными во всем мире.
Производитель: Jordan Valley Semiconductors Ltd.
Поставщик: Technoinfo Limited
Рубрикатор: Дифрактометрия
Ключевые слова: рентгеновская топография
Система рентгеновской топографии (XRDI) для определения кристаллических дефектов структурированных и сплошных пластин Jordan Valley QC-RT.
Производитель: Jordan Valley Semiconductors Ltd.
Поставщик: Technoinfo Limited
Рубрикатор: Дифрактометрия
Ключевые слова: дифрактометр
Система Jordan Valley QC-Velox — рентгеновский дифрактометр высокого разрешения последнего поколения, предназначенный для эпитаксиальных слоев (тонких пленок), преимущественно для светодиодов, фотовольтаики, а также для производства пластин из эпитаксиальных слоев. Прибор сконструирован для задач, требующих сверхвысокой пропускной способности, массового производства.
Производитель: Jordan Valley Semiconductors Ltd.
Поставщик: Technoinfo Limited
Рубрикатор: Дифрактометрия
Ключевые слова: дифрактометр
QC3 — дифрактометр высокого разрешения (HRXRD) для эпитаксиальных слоев (тонких пленок). Сконструирован для задач, требующих высокой пропускной способности.
Производитель: Jordan Valley Semiconductors Ltd.
Поставщик: Technoinfo Limited
Рубрикатор: Дифрактометрия
Ключевые слова: дифрактометр
Дифрактометр последнего поколения D1 Evolution компании Jordan Valley прекрасно подходит для выполнения самых разнообразных задач по исследованию тонкопленочных материалов, для контроля качества и оптимизации параметров производства.