Инструменты нанотехнологий

Сортировать: по рейтингу | по названию | по дате поступления | по популярности

Поиск по производителю

Производитель: FEI Company

FEI Company (бывший Philips Electron Optics) представляет набор решений, в основе которого находится комбинация мощных сканирующих (SEM) и просвечивающих (TEM) электронных микроскопов и ионно-лучевых приборов (FIB), разработанных специально для удовлетворения строгих требований современных отраслей промышленности. Эти системы позволяют просто и точно создавать трехмерные представления сложных структур и анализировать материалы до атомного уровня.

Всё оборудование

10

Phenom™. Сканирующий электронный микроскоп

Производитель: FEI Company

Поставщик: Technoinfo Limited

Рубрикатор: Сканирующие электронные микроскопы

Ключевые слова: наноиндентор, инструментальные испытания вдавливанием, твердость, механические характеристики

PHENOM — уникальный прибор для получения изображения, вносящий новую размерность в микроскопию. PHENOM делает получение изображения высокого разрешения практическим и доступным для промышленных и исследовательских лабораторий.

9

Tecnai G2 20F U-TWIN STEM. Просвечивающий электронный микроскоп

Производитель: FEI Company (США)

Поставщик: ЗАО «Инструменты Нанотехнологии»

Рубрикатор: Просвечивающие электронные микроскопы

Ключевые слова: электронные микроскопы, ПЭМ

Просвечивающие Электронные Микроскопы серии Tecnai — это новые, высокотехнологичные приборы, соответствующие последнему слову техники. Управляемые операционной системой Windows NT, они обеспечивают высокую производительность с универсальностью, высокую продуктивность с легкостью использования и безопасностью для каждого пользователя.

2

Nova 200. Электронно-ионный сканирующий микроскоп

Производитель: FEI Company (США)

Поставщик: ЗАО «Инструменты Нанотехнологии»

Рубрикатор: Сканирующие электронные микроскопы

Ключевые слова: электронные микроскопы, СЭМ

Электронно-ионные сканирующие микроскопы Nova NanoLab — новое поколение приборов для исследования внутреннего строения объектов и создания стерео изображения образцов без дополнительной программной обработки.

Apreo SEM FEI. Универсальный сканирующий электронный микроскоп

Производитель: FEI Company

Поставщик: Серния Инжиниринг, ООО

Рубрикатор: Сканирующие электронные микроскопы

Ключевые слова: Apreo, SEM, FEI, микроскоп, сканирующий, электронный, исследования, наночастицы

ООО «Серния» представляет универсальный сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) Apreo SEM FEI для исследования наночастиц, катализаторов, порошков и наноустройств от компании FEI Company (США).

Helios G4 HX FEI. Электронно-ионный микроскоп

Производитель: FEI Company

Поставщик: Серния Инжиниринг, ООО

Рубрикатор: Просвечивающие электронные микроскопы, Сканирующие гелиево-ионные микроскопы, Сканирующие электронные микроскопы

Ключевые слова: Helios, G4, HX, FEI, электронный, ионный, микроскоп

ООО «Серния» представляет электронно-ионный микроскоп Helios G4 HX от компании FEI Company для нужд лабораторий анализа отказов в микроэлектронике.

Inspect S SEM. Сканирующий электронный микроскоп

Производитель: FEI Company

Поставщик: Серния Инжиниринг, ООО

Рубрикатор: Сканирующие электронные микроскопы

Ключевые слова: сзм, электронные микроскопы, растровый электронный микроскоп, сканирующий микроскоп

ООО «Серния» предлагает сканирующий электронный микроскоп Inspect S SEM от компании FEI Company.

Quanta 200. Сканирующий электронный микроскоп

Производитель: FEI Company (США)

Поставщик: ЗАО «Инструменты Нанотехнологии»

Рубрикатор: Сканирующие электронные микроскопы

Ключевые слова: электронные микроскопы, СЭМ

Quanta 200 — растровый электронный микроскоп с термоэмиссионным катодом и системой EDS микроанализа. Разработан для получения всей возможной микроскопической информации на любых образцах с высокой степенью автоматизации.

Quanta 400. Сканирующий электронный микроскоп

Производитель: FEI Company (США)

Поставщик: ЗАО «Инструменты Нанотехнологии»

Рубрикатор: Сканирующие электронные микроскопы

Ключевые слова: электронные микроскопы, СЭМ

Quanta 400 — растровый электронный микроскоп с термоэмиссионным катодом и системой EDS микроанализа. Разработан для получения всей возможной микроскопической информации на любых образцах с высокой степенью автоматизации.

Quanta™ 3D DualBeam™. Сканирующий электронный микроскоп

Производитель: FEI Company (США)

Поставщик: Technoinfo Limited

Рубрикатор: Сканирующие электронные микроскопы

Ключевые слова: электронные микроскопы, СЭМ

Многофункциональный растровый элеектронный микроскоп с интегрированной системой фокусированного ионного пучка для структурной диагностики и автоматизированных исследований в промышленных и лабораторных условиях.

Quanta™. Сканирующий электронный микроскоп

Производитель: FEI Company (США)

Поставщик: ЗАО «Инструменты Нанотехнологии»

Рубрикатор: Сканирующие электронные микроскопы

Ключевые слова: электронные микроскопы, СЭМ

Quanta™ — все в одном SEM: широкие возможности для различных применений в настоящем и будущем в едином приборе.

2 9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Z А Б В Г Д Е И К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Э ВСЕ