Инструменты нанотехнологий
Сортировать: по рейтингу | по названию | по дате поступления | по популярности
Поиск по названию
Производитель: Hecus X-Ray Systems (Австрия)
Поставщик: ЗАО «Инструменты Нанотехнологии»
Рубрикатор: Малоугловое рентгеновское рассеяние, Аналитические системы
Ключевые слова: рентгеновские дифрактометры
Прибор Hecus S3-MICRO разработан в соответствии с высокими современными стандартами и может применяться в производстве новейших материалов, для изучения твердых образцов, гелей, макромолекулярных растворов, полимеров и тонких пленок, а также в биомедицине, фармакологии, пищевой промышленности и при контроле качества.
Производитель: HORIBA (Япония)
Поставщик: РВС, ООО
Рубрикатор: Лазерная дифракция
Ключевые слова: размер частиц, анализ наночастиц, анализатор размеров частиц
ООО «РВС» предлагает лазерный анализатор Horiba LA-960 от компании HORIBA Jobin Yvon S.A.S. (Япония).
Производитель: ScientaOmicron (Швеция-Германия)
Поставщик: Группа Ай-Эм-Си, ООО
Рубрикатор: Оже-электронная спектроскопия, Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия
Ключевые слова: HAXPES, РФЭС, XPS, ЭСХА
ООО «Группа Ай-Эм-Си» предлагает фотоэлектронный спектрометр с жестким рентгеном HAXPES Lab от компании ScientaOmicron (Швеция-Германия).
Производитель: HORIBA (Япония)
Поставщик: РВС, ООО
Рубрикатор: Динамическое рассеяние света
Ключевые слова: размер наночастиц, анализ размеров частиц, лазерные анализаторы
ООО «РВС» предлагает лазерный анализатор HORIBA SZ-100Z от компании HORIBA Jobin Yvon S.A.S. (Япония) для измерения размера частиц в диапазоне от 0,3 нм до 8 мкм, дзета-потенциала и молекулярного веса.
Производитель: FEI Company
Поставщик: Серния Инжиниринг, ООО
Рубрикатор: Просвечивающие электронные микроскопы, Сканирующие гелиево-ионные микроскопы, Сканирующие электронные микроскопы
Ключевые слова: Helios, G4, HX, FEI, электронный, ионный, микроскоп
ООО «Серния» представляет электронно-ионный микроскоп Helios G4 HX от компании FEI Company для нужд лабораторий анализа отказов в микроэлектронике.
Производитель: Hitachi (Япония)
Поставщик: Interlab
Рубрикатор: Сканирующие электронные микроскопы
Ключевые слова: микроскопия, hitachi
InterLab Inc. предлагает сканирующий электронный микроскоп Hitachi S-3400N от компании Hitachi (Япония).
Производитель: Hitachi (Япония)
Поставщик: Interlab
Рубрикатор: Сканирующие электронные микроскопы
Ключевые слова: микроскопия, hitachi
InterLab Inc. предлагает малогабаритный сканирующий электронный микроскоп Hitachi SU1510 от компании Hitachi (Япония).
Производитель: Nanometrics (США)
Поставщик: ООО «Сигм плюс»
Рубрикатор: Приборы для микроанализа поверхности
Ключевые слова: полупроводники, эффект Холла
HL5500PC представляет собой высокоэффективную систему, предназначенную для проведения измерений эффекта Холла и позволяющую определять сопротивление, концентрацию и подвижность носителей в полупроводниках.
Производитель: Henniker Plasma (Великобритания)
Поставщик: Серния Инжиниринг, ООО
Рубрикатор: Плазмохимическое травление
Ключевые слова: плазменная обработка поверхности, обработка поверхности в вакууме, HPT100, Henniker
ООО «Серния» представляет систему плазменной обработки поверхности в вакууме HPT100 Henniker от компании Henniker Plasma (Великобритания).
© www.rusnanonet.ru 2008-2015. Все права защищены.
Перепечатка материалов сайта разрешается только с активной ссылкой на www.rusnanonet.ru
Нанотехнологическое оборудование. Портал RusNanoNet.ru
