Каталог оборудования - Анализ топографии

Российская национальная нанотехнологическая сеть

На главную страницу

Запомнить меня / Регистрация / Забыли пароль?
Поиск
Войти
Регистрация
Написать письмо
Карта сайта

Инструменты нанотехнологий

Главная страница / Каталог оборудования / Список оборудования

Сортировать: по рейтингу | по названию | по дате поступления | по популярности

Оборудование

Анализ топографии

Цифровой измерительный микроскоп Keyence VHX-2000

Производитель: Keyence

Поставщик: Микросистемы, ООО

Рубрикатор: Прямые микроскопы, Анализ топографии, Приборы для микроанализа поверхности, Программное обеспечение, Анализ рельефа поверхности

Ключевые слова: Keyence, цифровой микроскоп, VHX-1000, микроэлектроника

Японский производитель уникальных цифровых микроскопов выпустил в свет новый оптический микроскоп — VHX-2000, который является логическим продолжением серии микроскопов VHX. Сохранив все преимущества предшественника VHX-1000, VHX-2000 получил новые полезные возможности такие, например, как возможность проведения измерений для анализа частиц, возможность измерений «в один клик» и другие полезные опции.

Four Dimesions 280I. Система измерения сопротивления четырехзондовым методом

Производитель: Four Dimensions Inc. (США)

Поставщик: Группа Ай-Эм-Си, ООО

Рубрикатор: Анализ проводимости поверхности, Анализ топографии

Ключевые слова: четырехзондовый метод, измерение удельного сопротивления пластин, измерение сопротивления слитков, удельное сопротивление

ООО «Промышленный мониторинг и контроль» предлагает настольную систему для измерения удельного сопротивления четырехзондовым методом Four Dimesions 280I.

KLA-Tencor Candela CS-20. Установка для автоматизированной инспекции поверхности на производстве

Производитель: KLA-Tencor (США)

Поставщик: Группа Ай-Эм-Си, ООО

Рубрикатор: Анализ топографии

Ключевые слова: инспекция поверхности, полупроводниковые материалы, контроль технологического процесса, контроль обработки пластин, кремний, арсенид галия, фосфит индия, карбид кремния, сапфир, стекло, контроль технологических загрязнений

ООО «Промышленный мониторинг и контроль» предлагает установку KLA-Tencor Candela CS-20 для автоматизированной инспекции поверхности на производстве.

Lyncee Tec DHM T1000. Голографический микроскоп

Производитель: Lyncee Tec SA (Швейцария)

Поставщик: Группа Ай-Эм-Си, ООО

Рубрикатор: Инвертированные микроскопы, Анализ проводимости поверхности, Анализ топографии, Анализ рельефа поверхности

Ключевые слова: микроскопия, профилометрия, исследование клеток, бионанотехнология

ООО «Промышленный мониторинг и контроль» предлагает голографический микроскоп Lyncee Tec DHM серии T1000 для инспекции поверхности в проходящем свете.

Triboindenter TI 950. Сканирующий наноиндентор

Производитель: Hysitron Inc (США)

Поставщик: Группа Ай-Эм-Си, ООО

Рубрикатор: Сканирующие зондовые микроскопы, Анализ топографии, Нанотвердомеры, Анализ рельефа поверхности

Ключевые слова: исследование свойств материалов наноиндентирование скретч-тест твердомер

ООО «Промышленный мониторинг и контроль» предлагает Triboindenter TI 950 — самый продвинутый сканирующий наноиндентор на рынке.

CER SE 500adv. Комбинированный лазерный эллипсометр-рефлектометр

Производитель: SENTECH Instruments GmbH

Поставщик: МИНАТЕХ, ООО

Рубрикатор: Анализ топографии, Лазерные системы, Аналитические системы, Научно-исследовательские комплексы

Ключевые слова: оборудование, микроэлектроника, нанотехнологии, установки плазменного осаждения, эллипсометры

CER SE 500adv — уникальный комбинированный лазерный (сканирующий) эллипсометр-рефлектометр с возможностью проведения измерений пленок под различными углами разработан для высокоточного измерения толщины и оптических характеристик пленочных структур (коэффициент преломления, показатель поглащения) на различных типах поверхностей. Для измерения нанопленок.