Инструменты нанотехнологий
Сортировать: по рейтингу | по названию | по дате поступления | по популярности
Оборудование
Производитель: Keyence
Поставщик: Микросистемы, ООО
Рубрикатор: Прямые микроскопы, Анализ топографии, Приборы для микроанализа поверхности, Программное обеспечение, Анализ рельефа поверхности
Ключевые слова: Keyence, цифровой микроскоп, VHX-1000, микроэлектроника
Японский производитель уникальных цифровых микроскопов выпустил в свет новый оптический микроскоп — VHX-2000, который является логическим продолжением серии микроскопов VHX. Сохранив все преимущества предшественника VHX-1000, VHX-2000 получил новые полезные возможности такие, например, как возможность проведения измерений для анализа частиц, возможность измерений «в один клик» и другие полезные опции.
Производитель: Four Dimensions Inc. (США)
Поставщик: Группа Ай-Эм-Си, ООО
Рубрикатор: Анализ проводимости поверхности, Анализ топографии
Ключевые слова: четырехзондовый метод, измерение удельного сопротивления пластин, измерение сопротивления слитков, удельное сопротивление
ООО «Промышленный мониторинг и контроль» предлагает настольную систему для измерения удельного сопротивления четырехзондовым методом Four Dimesions 280I.
Производитель: KLA-Tencor (США)
Поставщик: Группа Ай-Эм-Си, ООО
Рубрикатор: Анализ топографии
Ключевые слова: инспекция поверхности, полупроводниковые материалы, контроль технологического процесса, контроль обработки пластин, кремний, арсенид галия, фосфит индия, карбид кремния, сапфир, стекло, контроль технологических загрязнений
ООО «Промышленный мониторинг и контроль» предлагает установку KLA-Tencor Candela CS-20 для автоматизированной инспекции поверхности на производстве.
Производитель: Lyncee Tec SA (Швейцария)
Поставщик: Группа Ай-Эм-Си, ООО
Рубрикатор: Инвертированные микроскопы, Анализ проводимости поверхности, Анализ топографии, Анализ рельефа поверхности
Ключевые слова: микроскопия, профилометрия, исследование клеток, бионанотехнология
ООО «Промышленный мониторинг и контроль» предлагает голографический микроскоп Lyncee Tec DHM серии T1000 для инспекции поверхности в проходящем свете.
Производитель: Hysitron Inc (США)
Поставщик: Группа Ай-Эм-Си, ООО
Рубрикатор: Сканирующие зондовые микроскопы, Анализ топографии, Нанотвердомеры, Анализ рельефа поверхности
Ключевые слова: исследование свойств материалов наноиндентирование скретч-тест твердомер
ООО «Промышленный мониторинг и контроль» предлагает Triboindenter TI 950 — самый продвинутый сканирующий наноиндентор на рынке.
Производитель: SENTECH Instruments GmbH
Поставщик: МИНАТЕХ, ООО
Рубрикатор: Анализ топографии, Лазерные системы, Аналитические системы, Научно-исследовательские комплексы
Ключевые слова: оборудование, микроэлектроника, нанотехнологии, установки плазменного осаждения, эллипсометры
CER SE 500adv — уникальный комбинированный лазерный (сканирующий) эллипсометр-рефлектометр с возможностью проведения измерений пленок под различными углами разработан для высокоточного измерения толщины и оптических характеристик пленочных структур (коэффициент преломления, показатель поглащения) на различных типах поверхностей. Для измерения нанопленок.
Производитель: Four Dimensions Inc. (США)
Поставщик: Группа Ай-Эм-Си, ООО
Рубрикатор: Анализ проводимости поверхности, Анализ топографии, Приборы для микроанализа поверхности, Программное обеспечение
Ключевые слова: электрохимический профилометр, профилометрия, ртутный зонд, ВАХ, ВФХ, вольт-фарадные характеристики
ООО «Группа Ай-Эм-Си» предлагает ртутный зонд Four Dimensions CV92 M от компании Four Dimensions Inc. (США).
Производитель: KLA-Tencor (США)
Поставщик: Группа Ай-Эм-Си, ООО
Рубрикатор: Анализ топографии, Анализ рельефа поверхности, Фазовый анализ поверхности
Ключевые слова: инспекция поверхности, полупроводниковые материалы, контроль технологического процесса, контроль обработки пластин
ООО «Группа Ай-Эм-Си» предлагает Оптические профилометры (интерферометры) MicroXAM от компании KLA-Tencor (США).
Производитель: Accurion (Германия)
Поставщик: Группа Ай-Эм-Си, ООО
Рубрикатор: Прямые микроскопы, Анализ топографии, Спектральные эллипсометры
Ключевые слова: эллипсометр, эллипсометрия, микроскопия
ООО «Группа Ай-Эм-Си» предлагает визуализирующий эллипсометр Nanofilm EP4 от компании Accurion (Германия).
Производитель: Nanosystem (Южная Корея)
Поставщик: Интеллект, ООО
Рубрикатор: Анализ топографии, Приборы для микроанализа поверхности, Анализ рельефа поверхности
Ключевые слова: оптический профилометр
ООО «Интеллект» представляет точный бесконтактный оптический 3D-профилометр NanoView от компании Nanosystem (Южная Корея).
На страницу назад
На страницу вперед
© www.rusnanonet.ru 2008-2015. Все права защищены.
Перепечатка материалов сайта разрешается только с активной ссылкой на www.rusnanonet.ru
Нанотехнологическое оборудование. Портал RusNanoNet.ru
