Инструменты нанотехнологий
Сортировать: по рейтингу | по названию | по дате поступления | по популярности
Оборудование
Анализ проводимости поверхности
Производитель: Microtrac Inc.
Поставщик: Microtrac Inc
Рубрикатор: Сканирующие электронные микроскопы, Лазерная дифракция, Лазерные системы, Аналитические системы, Анализ проводимости поверхности, Дифрактометрия
Ключевые слова: микроскоп, анализ размера частиц, наночастица, видеомикроскоп, Microtrac, анализ частиц, размер частиц
ZetaView — видеомикроскоп лазерного рассеяния для слежения за движением мельчайших частиц в электрофоретической ячейке.
Производитель: Four Dimensions Inc. (США)
Поставщик: Группа Ай-Эм-Си, ООО
Рубрикатор: Анализ проводимости поверхности, Анализ топографии
Ключевые слова: четырехзондовый метод, измерение удельного сопротивления пластин, измерение сопротивления слитков, удельное сопротивление
ООО «Промышленный мониторинг и контроль» предлагает настольную систему для измерения удельного сопротивления четырехзондовым методом Four Dimesions 280I.
Производитель: Lyncee Tec SA (Швейцария)
Поставщик: Группа Ай-Эм-Си, ООО
Рубрикатор: Инвертированные микроскопы, Анализ проводимости поверхности, Анализ топографии, Анализ рельефа поверхности
Ключевые слова: микроскопия, профилометрия, исследование клеток, бионанотехнология
ООО «Промышленный мониторинг и контроль» предлагает голографический микроскоп Lyncee Tec DHM серии T1000 для инспекции поверхности в проходящем свете.
Производитель: MicroXact Inc. (США)
Поставщик: МИНАТЕХ, ООО
Рубрикатор: Анализ проводимости поверхности
Ключевые слова: зондовая станция, аналитические системы, зондовые измерения, analytical probe stations, magnetic probe
Полуавтоматические аналитические зондовые станции с компьютерным управлением SPS-2600/SPS-2600-PLUS от компании MicroXact Inc. (США).
Производитель: Four Dimensions Inc. (США)
Поставщик: Группа Ай-Эм-Си, ООО
Рубрикатор: Анализ проводимости поверхности, Анализ топографии, Приборы для микроанализа поверхности, Программное обеспечение
Ключевые слова: электрохимический профилометр, профилометрия, ртутный зонд, ВАХ, ВФХ, вольт-фарадные характеристики
ООО «Группа Ай-Эм-Си» предлагает ртутный зонд Four Dimensions CV92 M от компании Four Dimensions Inc. (США).
Производитель: MicroXact Inc. (США)
Поставщик: МИНАТЕХ, ООО
Рубрикатор: Анализ проводимости поверхности
Ключевые слова: зондовые станции
Зондовые станции MPS-C-300/350 для проведения магнитных измерений (Magnetic Probe Stations) от компании MicroXact Inc. (США).
Производитель: SENSOFAR (Испания)
Поставщик: МИНАТЕХ, ООО
Рубрикатор: Анализ проводимости поверхности, Анализ топографии, Приборы для микроанализа поверхности, Анализ рельефа поверхности, Атомно-слоевое осаждение, Оборудование планарных технологий
Ключевые слова: оптический профилометр, профилометр-конфокальный микроскоп
МИНАТЕХ предлагает оптический профилометр S NEOX от компании SENSOFAR (Испания).
Производитель: SENTECH Instruments GmbH
Поставщик: МИНАТЕХ, ООО
Рубрикатор: Анализ проводимости поверхности, Анализ топографии, Приборы для микроанализа поверхности, Анализ рельефа поверхности, Лазерные системы
Ключевые слова: SENDIRA, лазерный эллипсометр, метрология тонких пленок, измерение толщины и оптических характеристик тонких пленок
ИК-Фурье спектроскопическая эллипсометрическая система SENDIRA (инфракрасный спектральный эллиспометр) со спектральным диапазоном от 400 см-1 до 6000 см-1 (1666–25000 нм) и управляемым компьютером моторизованным гониометром.
Производитель: SENTECH Instruments GmbH
Поставщик: МИНАТЕХ, ООО
Рубрикатор: Анализ проводимости поверхности, Приборы для микроанализа поверхности, Лазерные системы
Ключевые слова: SENDURO, лазерный эллипсометр, метрология тонких пленок, измерение толщины и оптических характеристик тонких пленок
Высокопроизводительная автоматическая эллипсометрическая измерительная система SENDURO® на базе УФ-ВИД спектроскопического эллипсометра с возможностью сканирования. Спектральный диапазон: 290–850 нм.
Производитель: SENTECH Instruments GmbH
Поставщик: МИНАТЕХ, ООО
Рубрикатор: Анализ проводимости поверхности, Анализ топографии, Приборы для микроанализа поверхности, Анализ рельефа поверхности, Лазерные системы
Ключевые слова: SENresearch, SE 800, SE 800E, SE 850, SE 800DUV, SE 850DUV, микроэлектроника, нанотехнологии, полупроводники, аналитическое оборудование, спектрометры, установки плазменного травления, установки плазменного осаждения, эллипсометры, плазменная очистка
SENresearch — серия новейших спектроскопических эллипсометров с диапазоном длин волн от 190 (DUV) до 2500 (IR) нм. специально разработанных для исследований с возможностью проведения измерений толщин одно- и многослойных пленок и пленочных структур под различными углами и для измерения оптических характеристик пленочных структур (коэффициент преломления, показатель поглащения) на различных типах поверхностей в УФ и видимом ИК диапазонах с возможностью расширений спектрального диапазона до 190 — 2500 нм.