Сортировать: по рейтингу | по названию | по дате поступления | по популярности

Оборудование

Микроскопия

В настоящее время рынок микроскопии высокого разрешения представлен следующими классами микроскопов:

  • зондовые — атомно-силовые (АСМ), туннельные, ближнепольные,
  • электронные,
  • линзовые — конфокальные, флуоресцентные.

Также развивается несколько новых перспективных технологий оптической микроскопии, таких как Stimulated Emission Depletion (STED), Saturated Structured Illumination Microscopy и Photoactivated Localization Microscopy (PALM), которые сейчас только входят на рынок.

30

InduSEM. Мобильный сканирующий электронный микроскоп для контроля качества непосредственно на производстве

Производитель: Tescan, a.s.

Поставщик: ТЕСКАН, ООО

Рубрикатор: Сканирующие электронные микроскопы

Ключевые слова: СЭМ

InduSem — компактный и легко транспортируемый сканирующий электронный микроскоп для комплексного анализа образцов и проведения контроля качества с высоким разрешением различных материалов.

27

JEM-2100. Просвечивающий электронный микроскоп

Производитель: JEOL Ltd. (Япония)

Поставщик: Tokyo Boeki Ltd

Рубрикатор: Просвечивающие электронные микроскопы

Ключевые слова: JEM-2100, JEOL, микроскопия

Микроскоп JEM-2100 явился логическим развитием знаменитого микроскопа JEM-2010, который долгое время занимал положение стандарта «де факто» в промышленных приложениях электронной микроскопии и демонстрировал превосходные показатели качества изображений и аналитических возможностей среди 200 кВ электронных микроскопов высокого разрешения.

24

VEGA 3 LM. Сканирующий электронный микроскоп

Производитель: Tescan, a.s.

Поставщик: ТЕСКАН, ООО

Рубрикатор: Сканирующие электронные микроскопы

Ключевые слова: сэм

VEGA 3 LM — сканирующий электронный микроскоп с термоэмиссионным вольфрамовым катодом. Обладая большой камерой и оптимизированной геометрией портов, микроскоп идеально подходит для исследования больших образцов в случаях, когда требуется значительный аналитический потенциал.

16

MIRA 3 XM. Сканирующий электронный микроскоп высокого разрешения с катодом Шоттки

Производитель: Tescan, a.s.

Поставщик: ТЕСКАН, ООО

Рубрикатор: Сканирующие электронные микроскопы

Ключевые слова: СЭМ, катод Шоттки, аэтоэмиссия

MIRA 3 XM — cканирующий электронный микроскоп высокого разрешения с катодом Шоттки, максимально большой камерой и расширенным моторизованным столиком.

16

VEGA 3 SB. Компактный сканирующий электронный микроскоп

Производитель: Tescan, a.s.

Поставщик: ТЕСКАН, ООО

Рубрикатор: Сканирующие электронные микроскопы

Ключевые слова: СЭМ

VEGA 3 SB — компактный сканирующий электронный микроскоп с термоэмиссионным вольфрамовым катодом. Для него характерны аналитическая камера образцов, моторизованный столик и современная электронная оптика. Обладая превосходным качеством изображения при сравнительно невысокой цене, микроскоп является прекрасным выбором для исследований небольших образцов в промышленности и для использования в целях обучения.

12

Zeiss Orion. Сканирующий гелиево-ионный микроскоп

Производитель: Carl Zeiss Group (Германия)

Поставщик: ОПТЭК (ZEISS Group)

Рубрикатор: Сканирующие гелиево-ионные микроскопы

Ключевые слова: гелиево-ионный микроскоп

Гелиево-ионный микроскоп Carl Zeiss Orion - абсолютно новый прорыв в микроскопии. Благодаря уникальным физическим параметрам гелиево-ионного пучка, ORION способен обеспечивать такими характеристиками: ангстремное разрешение, глубина резкости, материальный контраст, какие до сих пор невозможно было получить при помощи традиционных инструментов микроскопии.

12

НАНОЭДЬЮКАТОР II. Атомно-силовой микроскоп для практических занятий по нанотехнологиям

Производитель: НТ-МДТ (Россия)

Поставщик: НТ-МДТ, ООО

Рубрикатор: Атомно-силовые микроскопы

Ключевые слова: NanoEducator, НТ-МДТ, научно-учебный комплекс

NANOEDUCATOR II — новое поколение учебно-научных комплексов для преподавания основ нанотехнологии.

10

JEM-2100F. Просвечивающий электронный микроскоп с термополевой эмиссией катода

Производитель: JEOL Ltd. (Япония)

Поставщик: Tokyo Boeki Ltd

Рубрикатор: Просвечивающие электронные микроскопы

Ключевые слова: JEM, JEOL, микроскопия

JEOL создал новый электронный микроскоп с полевой эмиссией (FE-TEM, катод типа Шоттки), современный инструмент 21 столетия. Высокая стабильность, высокая эффективность, множество удобных функций, высокое разрешение.

2 9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Z А Б В Г Д Е И К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Э ВСЕ