Инструменты нанотехнологий
Сортировать: по рейтингу | по названию | по дате поступления | по популярности
Оборудование
Электронная микроскопия — совокупность электронно-зондовых методов исследования микроструктуры твердых тел, их локального состава и микрополей (электрических, магнитных и др.) с помощью электронных микроскопов - приборов, в которых для получения увеличения изображений используют электронный пучок.
Различают два главных направления электронной микроскопии: трансмиссионную (просвечивающую) и растровую (сканирующую). Они дают качественно различную информацию об объекте исследования и часто применяются совместно.
Известны также отражательная, эмиссионная, оже-электронная, лоренцова и иные виды электронной микроскопии, реализуемые, как правило, с помощью приставок к трансмиссионным и растровым электронным микроскопам.
Производитель: JEOL Ltd. (Япония)
Поставщик: Tokyo Boeki Ltd
Рубрикатор: Сканирующие электронные микроскопы
Ключевые слова: растровый электронный микроскоп, термоэмиссионный источник
JCM-5700 — компактный растровый электронный микроскоп с термоэмиссионным источником электронов. Имея стоимость, сопоставимую со стоимостью хороших световых микроскопов или настольных растровых электронных микроскопов, JCM-5700 имеет возможности полноценного растрового электронного микроскопа.
Производитель: Tescan, a.s.
Поставщик: ТЕСКАН, ООО
Рубрикатор: Сканирующие электронные микроскопы
Ключевые слова: сэм, катод Шоттки
MIRA 3 LM — сканирующий электронный микроскоп высокого разрешения, оснащенный автоэмиссионным катодом Шоттки.
Производитель: Carl Zeiss Group (Германия)
Поставщик: ОПТЭК (ZEISS Group)
Рубрикатор: Просвечивающие электронные микроскопы
Ключевые слова: просвечивающий электронный микроскоп
Автоэмиссионный просвечивающий электронный микроскоп с энергетическим ОМЕГА-фильтром LIBRA® 200FE предназначен для проведения работ и научных исследований в естественных, биологических науках; материаловедении и многих др.
Производитель: Tescan, a.s.
Поставщик: ТЕСКАН, ООО
Рубрикатор: Сканирующие электронные микроскопы
Ключевые слова: СЭМ, ионный пучок
LYRA 3 FEG — удобное сочетание электронной и ионной колонн на одной камере. Сфокусированный ионный пучок, как дополнение к автоэмиссионному микроскопу, предназначен для модификации поверхности.
Производитель: Tescan, a.s.
Поставщик: ТЕСКАН, ООО
Рубрикатор: Сканирующие электронные микроскопы
Ключевые слова: СЭМ
InduSem — компактный и легко транспортируемый сканирующий электронный микроскоп для комплексного анализа образцов и проведения контроля качества с высоким разрешением различных материалов.
Производитель: JEOL Ltd. (Япония)
Поставщик: Tokyo Boeki Ltd
Рубрикатор: Просвечивающие электронные микроскопы
Ключевые слова: JEM-2100, JEOL, микроскопия
Микроскоп JEM-2100 явился логическим развитием знаменитого микроскопа JEM-2010, который долгое время занимал положение стандарта «де факто» в промышленных приложениях электронной микроскопии и демонстрировал превосходные показатели качества изображений и аналитических возможностей среди 200 кВ электронных микроскопов высокого разрешения.
Производитель: Tescan, a.s.
Поставщик: ТЕСКАН, ООО
Рубрикатор: Сканирующие электронные микроскопы
Ключевые слова: сэм
VEGA 3 LM — сканирующий электронный микроскоп с термоэмиссионным вольфрамовым катодом. Обладая большой камерой и оптимизированной геометрией портов, микроскоп идеально подходит для исследования больших образцов в случаях, когда требуется значительный аналитический потенциал.
Производитель: Microtrac Inc.
Поставщик: Microtrac Inc
Рубрикатор: Сканирующие электронные микроскопы, Лазерная дифракция, Лазерные системы, Аналитические системы, Анализ проводимости поверхности, Дифрактометрия
Ключевые слова: микроскоп, анализ размера частиц, наночастица, видеомикроскоп, Microtrac, анализ частиц, размер частиц
ZetaView — видеомикроскоп лазерного рассеяния для слежения за движением мельчайших частиц в электрофоретической ячейке.
Производитель: Tescan, a.s.
Поставщик: ТЕСКАН, ООО
Рубрикатор: Сканирующие электронные микроскопы
Ключевые слова: СЭМ, катод Шоттки, аэтоэмиссия
MIRA 3 XM — cканирующий электронный микроскоп высокого разрешения с катодом Шоттки, максимально большой камерой и расширенным моторизованным столиком.
Производитель: Tescan, a.s.
Поставщик: ТЕСКАН, ООО
Рубрикатор: Сканирующие электронные микроскопы
Ключевые слова: СЭМ
VEGA 3 SB — компактный сканирующий электронный микроскоп с термоэмиссионным вольфрамовым катодом. Для него характерны аналитическая камера образцов, моторизованный столик и современная электронная оптика. Обладая превосходным качеством изображения при сравнительно невысокой цене, микроскоп является прекрасным выбором для исследований небольших образцов в промышленности и для использования в целях обучения.
На страницу назад
На страницу вперед
© www.rusnanonet.ru 2008-2015. Все права защищены.
Перепечатка материалов сайта разрешается только с активной ссылкой на www.rusnanonet.ru
Нанотехнологическое оборудование. Портал RusNanoNet.ru
