Инструменты нанотехнологий
Сортировать: по рейтингу | по названию | по дате поступления | по популярности
Оборудование
На сегодняшний день рентгеновская дифрактометрия — один из самых распространенных способов исследования материалов. Метод основан на получении и анализе дифракционной картины, возникающей в результате интерференции рентгеновских лучей, рассеянных электронами атомов облучаемого объекта. Эта картина определяется помимо атомной и электронной структуры изучаемого объекта, еще и характеристикой рентгеновского излучения.
Рентгенодифракционный анализ используется для:
Производитель: Microtrac Inc.
Поставщик: Microtrac Inc
Рубрикатор: Сканирующие электронные микроскопы, Лазерная дифракция, Лазерные системы, Аналитические системы, Анализ проводимости поверхности, Дифрактометрия
Ключевые слова: микроскоп, анализ размера частиц, наночастица, видеомикроскоп, Microtrac, анализ частиц, размер частиц
ZetaView — видеомикроскоп лазерного рассеяния для слежения за движением мельчайших частиц в электрофоретической ячейке.
Производитель: PANalytical (Нидерланды)
Поставщик: Налхо Техно, ЗАО
Рубрикатор: Рентгеновская дифрактометрия, Дифрактометрия, Малоугловое рентгеновское рассеяние
Ключевые слова: рентгеновский дифрактометр
Empyrean — уникальный по своим возможностям многоцелевой рентгеновский дифрактометр с вертикально расположенным гониометром высокого разрешения, для научных исследований и аналитического контроля в промышленности. Решает все задачи рентгеновской дифрактометрии.
Производитель: Jordan Valley Semiconductors Ltd.
Поставщик: Technoinfo Limited
Рубрикатор: Дифрактометрия
Ключевые слова: рентгеновская топография
Система рентгеновской топографии (XRDI) для определения кристаллических дефектов структурированных и сплошных пластин Jordan Valley QC-RT.
Производитель: Jordan Valley Semiconductors Ltd.
Поставщик: Technoinfo Limited
Рубрикатор: Дифрактометрия
Ключевые слова: дифрактометр
Система Jordan Valley QC-Velox — рентгеновский дифрактометр высокого разрешения последнего поколения, предназначенный для эпитаксиальных слоев (тонких пленок), преимущественно для светодиодов, фотовольтаики, а также для производства пластин из эпитаксиальных слоев. Прибор сконструирован для задач, требующих сверхвысокой пропускной способности, массового производства.
Производитель: Jordan Valley Semiconductors Ltd.
Поставщик: Technoinfo Limited
Рубрикатор: Дифрактометрия
Ключевые слова: дифрактометр
QC3 — дифрактометр высокого разрешения (HRXRD) для эпитаксиальных слоев (тонких пленок). Сконструирован для задач, требующих высокой пропускной способности.
Производитель: Jordan Valley Semiconductors Ltd.
Поставщик: Technoinfo Limited
Рубрикатор: Дифрактометрия
Ключевые слова: дифрактометр
Дифрактометр последнего поколения D1 Evolution компании Jordan Valley прекрасно подходит для выполнения самых разнообразных задач по исследованию тонкопленочных материалов, для контроля качества и оптимизации параметров производства.