Инструменты нанотехнологий

Сортировать: по рейтингу | по названию | по дате поступления | по популярности

Оборудование

Дифрактометрия

На сегодняшний день рентгеновская дифрактометрия — один из самых распространенных способов исследования материалов. Метод основан на получении и анализе дифракционной картины, возникающей в результате интерференции рентгеновских лучей, рассеянных электронами атомов облучаемого объекта. Эта картина определяется помимо атомной и электронной структуры изучаемого объекта, еще и характеристикой рентгеновского излучения.

Рентгенодифракционный анализ используется для:

  • исследования атомной структуры;
  • определения структурных характеристик и анализа степени чистоты кристаллических материалов;
  • исследования степени текстурированности и анализа дефектности тонких пленок;
  • анализа фазового состава веществ;
  • исследования фазовых переходов в веществах при изменении температуры, под действием электрических полей, механических напряжений;
  • анализа термических деформаций и изменений структурных характеристик кристаллических материалов.
17

ZetaView (ЗетаВью). Видеомикроскоп лазерного рассеяния

Производитель: Microtrac Inc.

Поставщик: Microtrac Inc

Рубрикатор: Сканирующие электронные микроскопы, Лазерная дифракция, Лазерные системы, Аналитические системы, Анализ проводимости поверхности, Дифрактометрия

Ключевые слова: микроскоп, анализ размера частиц, наночастица, видеомикроскоп, Microtrac, анализ частиц, размер частиц

ZetaView — видеомикроскоп лазерного рассеяния для слежения за движением мельчайших частиц в электрофоретической ячейке.

9

Empyrean. Рентгеновский многоцелевой дифрактометр

Производитель: PANalytical (Нидерланды)

Поставщик: Налхо Техно, ЗАО

Рубрикатор: Рентгеновская дифрактометрия, Дифрактометрия, Малоугловое рентгеновское рассеяние

Ключевые слова: рентгеновский дифрактометр

Empyrean — уникальный по своим возможностям многоцелевой рентгеновский дифрактометр с вертикально расположенным гониометром высокого разрешения, для научных исследований и аналитического контроля в промышленности. Решает все задачи рентгеновской дифрактометрии.

2

QC-RT. Система рентгеновской топографии

Производитель: Jordan Valley Semiconductors Ltd.

Поставщик: Technoinfo Limited

Рубрикатор: Дифрактометрия

Ключевые слова: рентгеновская топография

Система рентгеновской топографии (XRDI) для определения кристаллических дефектов структурированных и сплошных пластин Jordan Valley QC-RT.

2

QC-Velox. Дифрактометр высокого разрешения

Производитель: Jordan Valley Semiconductors Ltd.

Поставщик: Technoinfo Limited

Рубрикатор: Дифрактометрия

Ключевые слова: дифрактометр

Система Jordan Valley QC-Velox — рентгеновский дифрактометр высокого разрешения последнего поколения, предназначенный для эпитаксиальных слоев (тонких пленок), преимущественно для светодиодов, фотовольтаики, а также для производства пластин из эпитаксиальных слоев. Прибор сконструирован для задач, требующих сверхвысокой пропускной способности, массового производства.

2

QC3. Дифрактометр высокого разрешения

Производитель: Jordan Valley Semiconductors Ltd.

Поставщик: Technoinfo Limited

Рубрикатор: Дифрактометрия

Ключевые слова: дифрактометр

QC3 — дифрактометр высокого разрешения (HRXRD) для эпитаксиальных слоев (тонких пленок). Сконструирован для задач, требующих высокой пропускной способности.

D1 Evolution. Дифрактометр для исследования тонкопленочных материалов

Производитель: Jordan Valley Semiconductors Ltd.

Поставщик: Technoinfo Limited

Рубрикатор: Дифрактометрия

Ключевые слова: дифрактометр

Дифрактометр последнего поколения D1 Evolution компании Jordan Valley прекрасно подходит для выполнения самых разнообразных задач по исследованию тонкопленочных материалов, для контроля качества и оптимизации параметров производства.

Рубрикатор

Проекты, одобренные РОСНАНО

Все проекты РОСНАНО

Последние поступления

Поиск оборудования

2 9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Z А Б В Г Д Е И К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Э ВСЕ