Инструменты нанотехнологий
Сортировать: по рейтингу | по названию | по дате поступления | по популярности
Оборудование
Производитель: ООО «Нано Скан Технология» (Россия)
Поставщик: ООО «Нано Скан Технология»
Рубрикатор: Аналитические системы, Научно-исследовательские комплексы, Сканирующие зондовые микроскопы, Сканирующие туннельные микроскопы
Ключевые слова: сканирующий, микроскоп, зондовый, сзм
Certus Optic — сканирующий зондовый микроскоп, совмещенный с традиционным оптическим микроскопом. В этом приборе реализованы основные методики сканирующей зондовой микроскопии и традиционной оптической микроскопии.
Производитель: Mantis Deposition (United Kingdom)
Поставщик: Экситон Аналитик, ООО
Рубрикатор: Молекулярно-лучевая эпитаксия, МОС-гидридная эпитаксия, Аналитические системы, Научно-исследовательские комплексы, Синтез наноматериалов, Ионно-лучевая обработка, Магнетронное напыление, Плазмохимическое травление, Реактивное ионное травление, Плазмохимическоe осаждение из газовой фазы, Плазмохимическоe осаждение с источником индуктивно-связанной плазмы, Атомно-слоевое осаждение, Оборудование планарных технологий
Ключевые слова: молекулярно-лучевая эпитаксия
ООО «Экситон Аналитик» предлагает систему молекулярно-лучевой эпитаксии Mantis Deposition M600 для нанесения тонких пленок.
Производитель: Mantis Deposition (United Kingdom)
Поставщик: Экситон Аналитик, ООО
Рубрикатор: Молекулярно-лучевая эпитаксия, МОС-гидридная эпитаксия, Аналитические системы, Научно-исследовательские комплексы, Синтез наноматериалов, Ионно-лучевая обработка, Магнетронное напыление, Плазмохимическое травление, Реактивное ионное травление, Плазмохимическоe осаждение из газовой фазы, Плазмохимическоe осаждение с источником индуктивно-связанной плазмы, Атомно-слоевое осаждение, Оборудование планарных технологий
Ключевые слова: молекулярно-лучевая эпитаксия
ООО «Экситон Аналитик» предлагает систему молекулярно-лучевой эпитаксии Mantis Deposition NanoSys500 для выращивания тонких пленок.
Производитель: Microtrac Inc.
Поставщик: Microtrac Inc
Рубрикатор: Сканирующие электронные микроскопы, Лазерная дифракция, Лазерные системы, Аналитические системы, Анализ проводимости поверхности, Дифрактометрия
Ключевые слова: микроскоп, анализ размера частиц, наночастица, видеомикроскоп, Microtrac, анализ частиц, размер частиц
ZetaView — видеомикроскоп лазерного рассеяния для слежения за движением мельчайших частиц в электрофоретической ячейке.
Производитель: Hecus X-Ray Systems (Австрия)
Поставщик: ЗАО «Инструменты Нанотехнологии»
Рубрикатор: Малоугловое рентгеновское рассеяние, Аналитические системы
Ключевые слова: рентгеновские дифрактометры
Прибор Hecus S3-MICRO разработан в соответствии с высокими современными стандартами и может применяться в производстве новейших материалов, для изучения твердых образцов, гелей, макромолекулярных растворов, полимеров и тонких пленок, а также в биомедицине, фармакологии, пищевой промышленности и при контроле качества.
Производитель: Zyvex Instruments (США)
Поставщик: ЗАО «ЭлекТрейд-М»
Рубрикатор: Позиционеры, манипуляторы, Научно-исследовательские комплексы, Аналитические системы
Ключевые слова: наноманипулятор, нанотехнологические комплексы
Зондовая станция Zyvex S100 представляет собой интегрированную систему позиционирования для проведения измерений совместно со сканирующими электронными микроскопами (SEM) или ионно-лучевыми приборами (FIB) при исследованиях и разработках в микро- и нанообластях.
Производитель: Carl Zeiss Group (Германия)
Поставщик: ОПТЭК (ZEISS Group)
Рубрикатор: Аналитические системы, Ионно-лучевая обработка, Просвечивающие электронные микроскопы
Ключевые слова: электронный микроскоп, ПЭМ
Аналитический автоэмиссионный электронно-ионный (двухлучевой) растровый электронный микроскоп для исследования наноструктур, нанопрепарирования, электронно-лучевой и ионно-лучевой литографии, инспекционных целей и подготовки сверхтонких срезов для исследований методами ПЭМ.
Производитель: DataPhysics Instruments GmbH (Россия)
Поставщик: Контроль качества, ЗАО
Рубрикатор: Анализ смачиваемости, Аналитические системы
Ключевые слова: краевой угол, смачиваемость, поверхностное натяжение
Прибор OCA 35 предназначен для полностью автоматизированного определения смачиваемости твёрдых поверхностей, свободной энергии поверхности твёрдых образцов и её составляющих. Производитель DataPhysics Instruments GmbH, Германия.
Производитель: Carl Zeiss Group (Германия)
Поставщик: ОПТЭК (ZEISS Group)
Рубрикатор: Аналитические системы, Сканирующие электронные микроскопы
Ключевые слова: электронный микроскоп, СЭМ
NVision 40 — новая и мощная комбинация ионной (FIB) и GEMINI колонн.
Производитель: ЗАО ИЛИП (Россия)
Поставщик: Инновации ленинградских институтов и предприятий, ЗАО
Рубрикатор: Аналитические системы, Научно-исследовательские комплексы, Синтез наноматериалов
Ключевые слова: фуллерен, фуллеренол, производство
ЗАО ИЛИП предлагает комплекс оборудования производства фуллеренов для проведения исследований свойств и отработки технологий получения УНК (углеродных нанокластеров).
На страницу назад
На страницу вперед
© www.rusnanonet.ru 2008-2015. Все права защищены.
Перепечатка материалов сайта разрешается только с активной ссылкой на www.rusnanonet.ru
Нанотехнологическое оборудование. Портал RusNanoNet.ru
