Инструменты нанотехнологий

JEM-2100F. Просвечивающий электронный микроскоп с термополевой эмиссией катода

JEOL создал новый электронный микроскоп с полевой эмиссией (FE-TEM, катод типа Шоттки), современный инструмент 21 столетия. Высокая стабильность, высокая эффективность, множество удобных функций, высокое разрешение.

JEM-2100F вобрал в себя передовые разработки программного обеспечения и архитектурного исполнения для эффективного получения ценной исследовательской информации. Этот инструмент позволит Вам непосредственно наблюдать и изучать нано структуры, их изображения, дифракционные картины.

Технические параметры
Характеристика Значение
Разрешение по точкам 0,19 нм
Разрешение по линиям 0,1 нм
Ускоряющее напряжение от 80 до 200 кВ
Диапазон увеличений от х50 до х1 500 000

Дополнительная информация

JEM-2100F оснащён электронной пушкой с полевой эмиссией катода (FEG), которая даёт пучок высокой яркости (в сто раз ярче, чем с катодом из гексаборида лантана - LaB6) и намного стабильнее. Микроскоп JEM-2100F объединяет множество дополнительных функций, таких как высокочувствительное сканирование электронным пучком (STEM), система анализа потерь энергий электронов (EELS), энерго-дисперсионный спектрометр рентгеновского излучения, обеспечивающих простой способ сбора целого комплекса данных. Все функции основного блока, включая управление и отображение информации, автоматизированы, что значительно повышает удобство использования. Система энергодисперсионного спектрометра использует детектор новейшей конструкции, что повысило чувствительность анализа низкоэнергетических областей в три раза, по сравнению с предыдущими моделями ЭДС JEOL.

Система построения трёхмерных изображений – система томографии. Система последовательно, слой за слоем, получает изображения объёмного образца, а затем, с помощью компьютерной программы, реконструирует трёхмерное изображение, с возможностью обзора с разных сторон.

Интегрированное автоматизированное управление всей системой обеспечивает непревзойдённое удобство использования.

Система управления микроскопом JEM-2100F состоит из главной системы и совокупности подсистем. Главная система управляет основными функциями, такими, как электронно-оптическая система и система вакуумной откачки. Подсистемы контролируют работу электронной пушки, гониометра, панели оператора. Посредством встроенного ПК Вы можете управлять как главной системой, так и подсистемами. Специализированный компьютер рассчитан на стабильную и эффективную обработку многопоточной информации.

Система управления позволяет расширять возможности прибора, путем добавления дополнительных приставок (ЭДС, блок сканирования и т.д.). Более того, используя сетевые возможности ПК, Вы сможете легко подключать различные аналитические компоненты и дополнительные компьютеры для обработки изображений.

Информация предоставлена Tokyo Boeki Ltd

2 9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Z А Б В Г Д Е И К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Э ВСЕ