Инструменты нанотехнологий

JEM-2100. Просвечивающий электронный микроскоп

Микроскоп JEM-2100 явился логическим развитием знаменитого микроскопа JEM-2010, который долгое время занимал положение стандарта «де факто» в промышленных приложениях электронной микроскопии и демонстрировал превосходные показатели качества изображений и аналитических возможностей среди 200 кВ электронных микроскопов высокого разрешения.

JEM-2100 обладает улучшенной системой управления и более совершенной защитой от механических вибраций. JEM-2100 управляется персональным компьютером на базе операционной системы Windows XP. Различные опциональные приставки, например, такие, как сканирующая приставка (STEM), энерго-дисперсионный спектрометр (EDS) и др. могут быть легко установлены на микроскоп.

Технические параметры
Характеристика Значение
Разрешение по точкам 0,19 нм
Разрешение по линиям 0,14 нм
Ускоряющее напряжение от 80 до 200 кВ
Диапазон увеличений от х50 до х1 500 000

Дополнительная информация

Электронная пушка высокой яркости

Катод из гексаборида лантана (LaB6) генерирует пучок электронов высокой интенсивности и стабильности. Такой тип катода эффективен для высокочувствительного анализа областей от микро- до нано размеров, а также для получения изображений высокого разрешения. Когда вы Удобный выбор оптимального ускоряющего напряжения позволяет изучать образцы, чувствительные к воздействию пучка, такие как углеродные нанотрубки, полимерные материалы и т.п.

Проверенная временем система электронной оптики

Микроскоп JEM-2100 оснащён качественной системой электронной оптики, позволяющей заказчику выбрать по своему усмотрению линзу объектива из следующих вариантов: ультравысокое разрешение, высокое разрешение, высокие значения наклона образца, крио исследования, высокий контраст.

Среди улучшений системы электронной оптики нужно отметить систему предотвращения вращений и компенсации дисторсии. Кроме того, функция α-селектора позволяет менять угол освещения образца пучком.

Сканирующая приставка (STEM), опция

Оптические параметры микроскопа JEM-2100, такие, как диаметр пучка и рабочее расстояние, оптимизированы для работы в режиме сканирования (STEM – BF/DF/HAADF, BEI, SEI) и анализа (EDS, EELS). Эти настройки моментально загружаются в систему управления микроскопом через дружественный интерфейс. Вдобавок к этому, подключение к микроскопу дополнительных аналитических приставок, позволит осуществлять элементный анализ (ЭДС) на изображениях в режиме сканирования, в том числе, карты распределения элементов и пр.

Пьезо-привод гониометрического держателя

Гониометрический держатель обновлённой конструкции снабжен пьезоприводом и осуществляет позиционирование образца с высокой точностью в широком диапазоне увеличений.

Обновлённая конструкция базового блока

JEM-2100 сконструирован на основе улучшенного основания базового блока и новой системы пассивной воздушной амортизации, серьёзно улучшивших защищённость микроскопа от микро вибраций. Дополнительно можно заказать систему активной защиты от вибраций.

Просвечивающий электронный микроскоп JEM-2100

Просвечивающий электронный микроскоп JEM-2100

Информация предоставлена Tokyo Boeki Ltd

2 9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Z А Б В Г Д Е И К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Э ВСЕ