Инструменты нанотехнологий

Inspect S SEM. Сканирующий электронный микроскоп

ООО «Серния» предлагает сканирующий электронный микроскоп Inspect S SEM от компании FEI Company.

Inspect S — сканирующий электронный микроскоп с вольфрамовым катодом, имеет режим высокого и низкого вакуума, идеален для проведения рутинных исследований в лабораторных и промышленных условиях.

Линейка микроскопов Inspect™ предназначена для получения изображений высокого разрешения. Эта экономичная модель микроскопа, созданная по передовым технологиям FEI, может быть дооснащена системой микроанализа и предназначена как для исследований в условиях промышленных предприятиях, так и для исследовательских лабораторий, занимающихся экспертизой и изучением характеристик материалов.

Разрешение
Высокий вакуум
  • 3.0nm at 30kV (SE)
  • 8.0nm at 3kV (SE)
  • 4.0nm at 30kV (BSE)
Низкий вакуум
  • 3.0nm at 30kV (SE)
  • 4.0nm at 30kV (BSE)
  • 10nm at 3kV (SE)
Ускоряющее напряжение
200 V — 30 kV
Ток луча
До 2μA —с плавной регулировкой

Дополнительные материалы:

Информация предоставлена Серния Инжиниринг, ООО

Отправить сообщение представителю компании

2 9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Z А Б В Г Д Е И К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Э ВСЕ