Инструменты нанотехнологий
ООО «Серния» предлагает сканирующий электронный микроскоп Inspect S SEM от компании FEI Company.
Inspect S — сканирующий электронный микроскоп с вольфрамовым катодом, имеет режим высокого и низкого вакуума, идеален для проведения рутинных исследований в лабораторных и промышленных условиях.
Линейка микроскопов Inspect™ предназначена для получения изображений высокого разрешения. Эта экономичная модель микроскопа, созданная по передовым технологиям FEI, может быть дооснащена системой микроанализа и предназначена как для исследований в условиях промышленных предприятиях, так и для исследовательских лабораторий, занимающихся экспертизой и изучением характеристик материалов.
Дополнительные материалы: