Инструменты нанотехнологий

Elli-RI. Спектроскопический рефлектометр

ООО «Промэнерголаб» предлагает систему измерения пленок солнечных элементов Elli-RI производства Ellipso Technology (Корея).

Спектроскопический рефлектометр с интегрирующей сферой Elli-RI обеспечивает высокоточное измерение толщин пленок. Хорошо подходит для измерения характеристик различных материалов, особенно антибликовых покрытий SiN, нанесенных на текстурированные мульти-кристаллические и/или моно-кристаллические кремниевые солнечные элементы.

Рабочие характеристики
Диапазон длин волн: 400~950 нм
Размер светового пятна: 4 мм
Измеряемые константы: отражательная способность, толщина пленки, n, k через λ
Диапазон толщин: 10 нм — 50 мкм (зависит от типа пленки)
Число слоев: до 3 (зависит от типа пленки)
Производительность: < 1 с на точку (зависит от типа пленки)
Повторяемость: ±0.3 нм за 10 измерений (зависит от типа пленки)
Структура рефлектометра
Источник света: Галогеновая лампа мощностью 150 Вт
Оптическая система: коллимационная оптическая система, волноводная волоконная оптика
Размер светового пятна: 4 мм
Спектральный диапазон: 400~900 нм
Спектрограф: ПЗС детектор
Интегрирующая сфера
Применение
Полупроводники Si, Ge, SiO2, ONO, ZnO, PR, poly-Si, GaN, GaAs
Дисплеи (в т.ч. OLED) MgO, ITO, PR, Alq3 , CuPc, PVK, PAF, PEDT-PSS
Диэлектрики SiO2, TiO3, Ta2O5, ITO, AIN, ZrO2, Si3N4, Ga2O3, водные окислы
Полимеры красители, NPB, MNA, PVA, PET, TAC, PR
Химия органические пленки (OLED) и LB тонкие пленки
Солнечные элементы:
  • Текстурированные моно- и/или мульти- кристаллические смеси
  • Антиотражающие покрытие (ARC) на текстурированных кремниевых солнечных ячейках (SiNx, AlNx...)
  • Прозрачные токопроводящие оксиды (ITO, ZnOx, активированный SnO2, AZO)
  • a-Si, μc-Si, поли-Si
  • Органические PV материалы
  • Сенсибилизированные красителями пленки

Информация предоставлена Промэнерголаб, ООО

Отправить сообщение представителю компании

2 9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Z А Б В Г Д Е И К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Э ВСЕ