Инструменты нанотехнологий

Apreo SEM FEI. Универсальный сканирующий электронный микроскоп

ООО «Серния» представляет универсальный сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) Apreo SEM FEI для исследования наночастиц, катализаторов, порошков и наноустройств от компании FEI Company (США).

Революционная конструкция объектива Apreo сочетают в себе электростатический и магнитный методы погружения для получения высочайшего разрешения и выбора сигнала. Уникальная система детектирования, режим низкого вакуума при высоком давлении, а также смарт-сканирование предлагают множество вариантов для решения сложных задач. Такая универсальность делает Apreo популярной платформой для исследования наночастиц, катализаторов, порошков и наноустройств без ущерба для магнитных свойств образцов.

Особенности конструкции и функции

Apreo SEM FEI имеет преимущество благодаря уникальной системе обнаружения обратного рассеяния, которая обеспечивает отличную контрастность материалов, даже при наклоне, коротком рабочем расстоянии или на чувствительных образцах. Новый объектив дополнительно улучшает контраст с фильтрацией энергии и добавляет фильтрацию заряда для работы с изображениями непроводящих образцов. Дополнительный режим низкого вакуума теперь имеет максимальное давление в камере 500 Па для визуализации даже самых требовательных изоляторов.

С учетом всех этих опций, в том числе подсоединения финального объектива, передовой технологии обнаружения и гибкой обработки проб, производительность и универсальность Apreo будет соответствовать вашим требованиям в течение многих последующих лет.

Преимущества СЭМ Apreo

  • Уникальный конечный объектив обеспечивает исключительное разрешение 1,0 нм при 1 кВ без необходимости замедления пучка — даже если образец наклонен или рельефный.
  • Наиболее полезен для обнаружения обратного рассеяния — контраст материала всегда доступен, даже при низком напряжении и токе пучка, под любым углом, на чувствительных образцах и при визуализации TV-скорости.
  • Непревзойденная гибкость детектора — получение контраста или интенсивности сигнала путем объединения информации из отдельных сегментов детектора.
  • Самый широкий диапазон стратегий смягчения заряда, в том числе режим низкого вакуума с давлением камеры до 500 Па, что позволяет визуализировать любой образец.
  • Превосходная аналитическая платформа обеспечивает высокие токи пучка и пятна небольшого размера. Камера поддерживает три EDS детектора, копланарный EDS & EBSD, и оптимизирована для аналитики низкого вакуума.
  • Самая простая обработка образцов и навигация с многоцелевым держателем образца и Nav-Cam+.
  • Экспертные результаты для новых пользователей при помощи расширенного руководства пользователя, пресетов и понятного интерфейса.

Информация предоставлена СЕРНИЯ, ООО

Отправить сообщение представителю компании

2 9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Z А Б В Г Д Е И К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Э ВСЕ