Инструменты нанотехнологий

Park NX20. Высокоточный атомно-силовой микроскоп

ООО «Промэнерголаб» предлагает высокоточный атомно-силовой микроскоп Park NX20 производства Park Systems (Южная Корея).

Высокоточный атомно-силовой микроскоп Park NX20 — идеальный выбор для анализа дефектов. ParkNX20 имеет репутацию самого точного АСМ в мире для анализа крупных образцов, поэтому он получил широкое распространение в индустрии жестких дисков и полупроводников.

Особенности

Идеальный выбор для анализа дефектов
Инженерам-исследователям, требуется получать надежные результаты и данные. Модель ParkNX20 имеет репутацию самого точного АСМ в мире для анализа крупных образцов, поэтому он получил широкое распространение в индустрии жестких дисков и полупроводников.
Мощное решение для анализа дефектов
Данный АСМ оснащается компонентами уникальной конструкции, которые облегчают использование микроскопа при поиске дефектов устройств и разработке креативных проектов. Непараллельная конструкция обеспечивает получение данных с высоким разрешением, которые позволяют Вам уделить основное внимание решению исследовательских задач. Режим True Non-ContactТМ делает работу зонда более четкой и продолжительной, это экономит Ваши время и деньги на обслуживание.
Прост в работе даже для молодого специалиста
Park NX20 имеет самый удобный дизайн и автоматизированный интерфейс в индустрии, поэтому не потребуется тратить много времени и сил при работе с микроскопом и для обучения молодых специалистов. Это позволяет больше времени уделить исследовательской работе и решению сложных задач и обеспечивает своевременный и качественный анализ дефектов.

Техническая информация

Предметный столик с функцией наклона для получения подробных изображений боковин (боковых стенок)
Инновационная конструкция NX20 позволяет рассмотреть боковину и поверхность образца, измерить угол наклона профилей. АСМ становится еще более универсальным инструментом для проведения исследовательских работ и глубокого изучение внутренних деталей образца.
  • Угол наклона: 10,15 и 20 град.
  • Размер образца: 20×20 мм
  • Толщина образца: 2 мм
Режимы работы
С широким диапазоном режимов сканирования и модульной конструкцией ParkNX20 располагает мощностью и гибкостью, которые требуются для реализации любого Вашего проекта
Стандартное изображение
  • True Non-Contact AFM (реальный бесконтактный режим АСМ)
  • PinPoint™ AFM
  • Basic Contact AFM (основной контактный режим АСМ)
  • Латеральная силовая микроскопия (LFM)
  • Фазовое изображение
  • Прерывистый (полуконтактный) режим АСМ
Электрические свойства (опционально)
  • Сканирующая емкостная микроскопия (SCM)
  • Режим проводимости АСМ (ULCA и VECA)
  • Электрическая силовая микроскопия (EFM)
  • Пьезоэлектрическая силовая микроскопия (PFM)
  • Сканирующая микроскопия с зондом Кельвина (SKPM/KPM)
Общие свойства (опционально)
  • Магнитная силовая микроскопия (MFM)
  • Сканирующая температурная микроскопия (SThM)
  • Силовая спектроскопия F-D
  • Сканирующая туннельная микроскопия (STM)
  • Силовая модулирующая микроскопия (FMM)
  • Наноидентификация
  • Нанолитография
  • Наноманипуляция
Лидирующий в отрасли малошумный Z-детектор
АСМ оснащены самыми эффективными в отрасли Z-детекторами с низким уровнем шума. Уровень шума не превышает 0,02 нм в широком диапазоне частот. Это позволяет выполнять топографическое измерение образца с высокой точностью, без смещения краев и калибровки. Поэтому Park NX20 экономит время и выдает отличные данные.
  • Используется сигнал Z-детектора низкого уровня шума для получения топографического изображения.
  • Низкий уровень шума Z-детектора 0,02нм в широком диапазоне частот.
  • Отсутствие смещения краев (начальных и замыкающих).
  • Выполняется только одна калибровка на заводе.
Точное топографическое изображение образца, полученное с помощью Z-детектора с низким уровнем шума
Отсутствие артефактов в результате сканирования АСМ на топографическом изображении с низким уровнем шума и обратной связью
Технические характеристики
Сканер Латеральный сканер XY Z сканер
Консольный одномодульный XY-сканер с замкнутым контуром управления
Сканирующий диапазон: 100мкм×100мкм (50мкм×50мкм, 25мкм×25мкм)
20-битный контроль положения и 24-битный датчик положения
Направляющий консольный силовой сканер
Сканирующий диапазон: 15мкм (30мкм)
20-битный контроль положения и 24-битный датчик положения
Обзор Линза объектива
Прямой осевой обзор поверхности образца и кантилевер
В сборе с линзой объектива 10× (линза с 20-кратным увеличением предлагается дополнительно)
Область обзора: 480×360мкм
ПЗС: 1 Мегапиксель
10×(0,21NA) линза со сверхдлинной рабочей дистанцией
20×(0,42NA) линза с длинной рабочей дистанцией высокого разрешения
Программа NXP NXI
Контроль системы и программа получения данных.
Регулируемые параметры обратной связи в режиме реального времени.
Управление скриптами с помощью внешних программ (дополнительно).
Программа для анализа данных АСМ.
Электроника Обработка сигнала Встроенные функции
  ADC: 18 каналов
4 высокоскоростных ADC канала (50 MSPS)
24-битный ADC для датчика положения сканера X, Y и Z
DAC: 12 каналов
2 высокоскоростных DAC канала (50 MSPS)
20-битный DAC для позиционирования сканера X, Y и Z
Максимальный размер данных: 4096×4096 пикселей
3 канала гибкого цифрового фиксирующего усилителя
Постоянная калибровка пружины (температурный метод)
Цифровое Q-управление
Опции/Режимы Стандартное изображение Электрические свойства*
True Non-Contact AFM (реальный бесконтактный режим АСМ)
Basic Contact AFM (основной контактный режим АСМ)
Латеральная силовая микроскопия (LFM)
Фазовое изображение
Прерывистый (полуконтактный) режим АСМ
Режим проводимости АСМ
Электрическая силовая микроскопия (EFM)
Пьезоэлектрическая силовая микроскопия (PFM)
Сканирующая микроскопия с зондом Кельвина (SKPM)
Сканирующая емкостная микроскопия (SCM)
Общие свойства*
  Магнитная силовая микроскопия (MFM)
Сканирующая температурная микроскопия (SThM)
Силовая спектроскопия F-D
Сканирующая туннельная микроскопия (STM)
Силовая модулирующая микроскопия (FMM)
Наноидентификация
Нанолитография
Наноманипуляция
Дополнительные принадлежности
Пластины для образцов
Акустическая камера с температурным контролем
Ручной пробник для жидкостей
Жидкостные элементы
Столики с температурным контролем
Внешний модуль с функцией наклона
Модуль доступа сигнала
Предметный столик
Диапазон перемещения XY: 150мм (200мм в качестве опции)
Диапазон перемещения Z: 25мм
Диапазон перемещения фокусировки: 15мм
Точное кодирующее устройство для всех осей (в качестве опции)
 
Крепление образца
  До 150 мм (в качестве опции 200мм)
Вакуумные прорези для удерживания подложек образцов
 
Доступ внешнего сигнала  
20 встроенных портов ввода/вывода 5 TTL выводов: EOF, EOL, EOP, модуляция и смещение АС  

Информация предоставлена Промэнерголаб, ООО

Отправить сообщение представителю компании

2 9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Z А Б В Г Д Е И К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Э ВСЕ